電阻率測(cè)試儀/四探針半導(dǎo)體材料電阻率檢測(cè)儀/四探針電阻率儀 型號(hào)：TDW-02

本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的及標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)，它主要由電器測(cè)量部份（主機(jī)）及四探針探頭組成,。樣品測(cè)試電流由高精寬的恒流源提供,，隨時(shí)可進(jìn)行校準(zhǔn),，以確保電阻率測(cè)量的準(zhǔn)確度   
主要技術(shù)指標(biāo): 。
對(duì)0.1～199.9Ω*cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測(cè)量誤差不過(guò)±5%。
（1）測(cè)量范圍：可測(cè)量電阻率：0.1～199.9Ω*cm,。
zui大電阻測(cè)量誤差（按JJG508-87進(jìn)行）：
0.1Ω,、1Ω、10Ω,、100Ω≤±5%
適合測(cè)量各種厚度的硅片,，可測(cè)晶片直徑（zui大）
園形Ф100mm           方形230×220mm
 （2）恒流源：
 輸出電流：0.01～1mA連續(xù)可調(diào)，誤差≦±0.5%,。恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%
（3）直流數(shù)字電壓表
 測(cè)量范圍：0.1～199.9mv    靈敏度：100μv   準(zhǔn)確度：0.2%（±2個(gè)字）  
 當(dāng)沒(méi)有測(cè)量時(shí),，表上數(shù)字不歸零屬于正常，是其自身處于自動(dòng)掃描狀態(tài)
（4）供電電源：AC：  220V ±10%（保護(hù)隔離）     50/60HZ   功率2W
（5）四探針探頭,； a.鎢鋼探針或高速鋼探針    b.間距1±0.01mm    
c.針尖緣電阻≥100mΩ  d.機(jī)械游移率≦1.0%  e.探針壓力 12-16牛頓（總力）
（6） 使用環(huán)境：
 溫度23±2℃,，相對(duì)濕度≤80%  無(wú)較強(qiáng)的電場(chǎng)干擾    無(wú)強(qiáng)光直接照射
(7) 使用方法；
a. 使用儀器前將電源線,、測(cè)試筆聯(lián)接線與主機(jī)聯(lián)接好,，電源線插頭插入～220V座插后，開(kāi)啟背板上的電源開(kāi)關(guān),，此時(shí)前面板上的數(shù)字表,、發(fā)光二管都會(huì)亮起來(lái)。探針頭壓在被測(cè)單晶上,，右邊的表顯示從1,、4探針流入單晶的測(cè)量電流，左邊的表顯示電阻率或2,、3探針間的電位差,。電流大小通過(guò)旋轉(zhuǎn)前面板右上方的電位器旋鈕加以調(diào)節(jié)b.  校準(zhǔn)設(shè)備：厚度小于3.98mm的（本公司提供厚度小于3.98mm的標(biāo)準(zhǔn)電流修正系數(shù)表）取與要備測(cè)試硅材料厚度相同的硅材料標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)電阻率測(cè)試儀，測(cè)試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)電阻率測(cè)試儀,。 
c.測(cè)試: 用四探針接觸硅材料,，以探針壓下三分之二為準(zhǔn)，待儀器顯示數(shù)字穩(wěn)定即可.
 d． 校驗(yàn)：在測(cè)試過(guò)程中要求每隔2小時(shí)用標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)一次設(shè)備
一般情況下,除了信號(hào)傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護(hù)主要包括針頭的更換和針頭  的  清理清潔工作
 維護(hù)后的安裝及維護(hù)過(guò)程中,必須注意安裝過(guò)程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列