瞬態(tài)平面熱源法導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀 型號(hào)：DRE-2C

DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀(瞬態(tài)平面熱源法)
DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀采用瞬態(tài)平面熱源法,，主要測(cè)量固體,、粉末,、涂層,、薄膜,、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù),。本儀器基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術(shù),，用Hot Disk作為探頭的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀,。
DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀Hot Disk法的優(yōu)點(diǎn)有：
(1)直接測(cè)量熱傳播,，可以節(jié)約大量的時(shí)間；
(2)不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響,；
(3)無(wú)須特別的樣品制備,，只需相對(duì)平整的樣品表面。 
 DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)：
1,、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍：0.01—100W/mk
2,、測(cè)量時(shí)間：1-600秒
3、準(zhǔn)確度：優(yōu)于5％
4,、溫度范圍：標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量：室溫,，(可根據(jù)客戶要求選配各種溫度段的測(cè)試溫度，費(fèi)用另計(jì)：如-20℃～120℃)
5,、樣本尺寸：大于15mm高,，大于直徑45mm相對(duì)平整的樣品表面