平面光帶檢測儀 平面光帶檢測儀 型號：JC-008
用途： 
機(jī)械密封件、光學(xué)零件、平臺,、平板,、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測。 
功率：20W 電源：220V/50Hz 燈源照射 
  
平面平晶規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm 
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做 
  
平面平晶產(chǎn)品特點(diǎn) 
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來 
測量被測量面的平面度,。 
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度,。亦可用于檢定 
高精度的平面零件,，例如，平面光學(xué)零件,、平臺,、平板、導(dǎo)軌,、密封件等,。平面平晶特別適用于 
計量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板,。