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技術(shù)文章
影響涂層測厚儀測量值精度的因素
點(diǎn)擊次數(shù)：542 發(fā)布時(shí)間：2012-2-24
影響涂層測厚儀測量值精度的因素的有關(guān)說明
a 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中,，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）,，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn),。
b 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān),。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),。
c 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,，測量就不受基體金屬厚度的影響,。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d 邊緣效應(yīng)
涂層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感,。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的,。
e 曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大,。因此,，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f 試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形,，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù),。
g 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,，影響增大,。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時(shí),，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn),；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,，再校對儀器的零點(diǎn)。
g 磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作,。
h 附著物質(zhì)
涂層測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此,，必須清除附著物質(zhì),，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),，因此,，要保持壓力恒定。
j 測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響,。在測量中,，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。
a 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中,，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）,，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn),。
b 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān),。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn),。
c 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,，測量就不受基體金屬厚度的影響,。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d 邊緣效應(yīng)
涂層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感,。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的,。
e 曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大,。因此,，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f 試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形,，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù),。
g 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,，影響增大,。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時(shí),，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn),；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,，再校對儀器的零點(diǎn)。
g 磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,，會嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作,。
h 附著物質(zhì)
涂層測厚儀對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此,，必須清除附著物質(zhì),，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),，因此,，要保持壓力恒定。
j 測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響,。在測量中,，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。