單波長X熒光硅分析儀由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構(gòu)成,。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線）,，激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性,。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量,。
本產(chǎn)品根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，也可以獲得各元素的含量信息,。近年來,，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金,、地質(zhì),、有色、建材,、商檢,、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域,，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得很廣泛,。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,，可分析固體、粉末,、熔珠,、液體等樣品，分析范圍為Be到U,。并且具有分析速度快,、測量范圍寬、干擾小的特點(diǎn),。
單波長X熒光硅分析儀是由低功率X射線管發(fā)射出的多波長X熒光,，經(jīng)個雙曲面彎晶光學(xué)元件捕獲聚焦，并將具有合適波長可以激發(fā)硅元素K層電子的單色X射線照射在裝入樣品盒中的被測樣品上形成小光斑,。
單色初級束流激發(fā)樣品并發(fā)射次級特性熒光X射線,，通過第二個雙曲面彎晶光學(xué)元件僅收集由硅元素激發(fā)出的波長為0.713nm的KαX射線熒光，并被一合適的探測器測量,，然后用校準(zhǔn)方程將其轉(zhuǎn)換成被測樣品中的硅含量,。
單波長X熒光硅分析儀適用于檢測汽油、柴油中的硅含量,，無需復(fù)雜的預(yù)處理過程,，可直接進(jìn)樣檢測，本產(chǎn)品可為石化企業(yè)提供準(zhǔn)確和可靠的分析結(jié)果,。
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