會(huì)員.png)
19
當(dāng)前位置：貝克曼庫(kù)爾特國(guó)際貿(mào)易（上海）有限公司>>公司動(dòng)態(tài)>>新機(jī)遇 新挑戰(zhàn)---粒度分析講座邀請(qǐng)
新機(jī)遇 新挑戰(zhàn)---粒度分析講座邀請(qǐng)
“2012 新機(jī)遇 新挑戰(zhàn)”
顆粒特性分析技術(shù)講座
顆粒特性分析技術(shù)講座
邀請(qǐng)函
由美國(guó)貝克曼庫(kù)爾特公司主辦的、應(yīng)用專(zhuān)家Matthew N Rhyner 博士主講的“2012新機(jī)遇,、新挑戰(zhàn)---顆粒特性分析新技術(shù)講座”將于2012 年5月23日上午 9:30 至12:30于中國(guó)北京清華大學(xué)環(huán)境學(xué)院舉行,。誠(chéng)邀各界人仕參加。 講座內(nèi)容：
☆顆粒特性分析技術(shù)概況
☆亞微米高分辨率PIDS技術(shù)
☆干粉分散的“ 龍卷風(fēng)”技術(shù)
☆ 庫(kù)爾特顆粒計(jì)數(shù)分析技術(shù)
☆ 高濃度Zeta電位測(cè)量的FST透明電極技術(shù)
☆ 固體及薄膜表面ZETA電位測(cè)量技術(shù)
☆顆粒特性分析技術(shù)概況
☆亞微米高分辨率PIDS技術(shù)
☆干粉分散的“ 龍卷風(fēng)”技術(shù)
☆ 庫(kù)爾特顆粒計(jì)數(shù)分析技術(shù)
☆ 高濃度Zeta電位測(cè)量的FST透明電極技術(shù)
☆ 固體及薄膜表面ZETA電位測(cè)量技術(shù)
貝克曼庫(kù)爾特商貿(mào)（中國(guó)）有限公司
2012年5月18 日