　　涂層測(cè)厚儀應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定　
　　a,、基體金屬特性　
　　對(duì)于磁性方法，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似,。　　
　　對(duì)于渦流方法,，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似?！?br />　　b,、基體金屬厚度
　　檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有,，可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn),。　　
　　c,、邊緣效應(yīng)　
　　不應(yīng)在緊靠試件的突變處,，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量,?！　?br />　　d、曲率　
　　不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量,?！?br />　　e、讀數(shù)次數(shù)　
　　通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù),。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此,。　
　　f,、表面清潔度　
　　測(cè)量前,，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土,、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)　
　　涂層測(cè)厚儀測(cè)量值影響因素說明　
　　1、基體金屬磁性質(zhì)　
　　磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）,，為了避免熱處理和冷加工因素的影響,，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn),。
　　2,、基體金屬電性質(zhì)　
　　基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān),。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),。　
　　3,、基體金屬厚度　
　　每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響,。本儀器的臨界厚度值見附表1,。　　
　　4,、邊緣效應(yīng)　
　　涂層測(cè)厚儀對(duì)試件表面形狀的陡變敏感,。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的?！?br />　　5,、曲率　
　　試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大,。因此,，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的?！?br />　　6,、試件的變形　
　　測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù),。　
　　7,、表面粗糙度　
　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響,。粗糙程度增大，影響增大,。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),，以克服這種偶然誤差,。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,，再校對(duì)儀器的零點(diǎn),。　
　　8,、磁場(chǎng)　
　　周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作?！?br />　　9,、附著物質(zhì)　
　　涂層測(cè)厚儀對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此,，必須清除附著物質(zhì),，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸?！　?br />　　10,、測(cè)頭壓力　
　　測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此,，要保持壓力恒定,。　　
　　11,、測(cè)頭的取向　
　　測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響,。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直,。

涂層測(cè)厚儀測(cè)量值精度的影響因素

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