您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
SB100A/3型四探針導體/半導體電阻率測量儀
由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低,，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要,，本儀器采用四探針法原理來實現(xiàn)對不同金屬,、半導體,、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量?？捎糜诟咝Ｎ锢斫逃龑嶒?，對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻及電阻率的測試及研究。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω,。
SB100A/3型四探針導體/半導體電阻率測量儀是由SB118/1型精密電壓電流源以及SB120/2四探針樣品平臺二臺儀器構成,。
l SB118型精密直流電壓電流源（詳見該產(chǎn)品使用說明書）
直流電流源
a） 電流輸出范圍：1nA~200mA，輸出電壓不小于5V,；
b） 量程：分五檔,，20μA、200μA,、2mA,、20mA、200mA,；
c） 電流輸出的基本誤差：0.03%RD±0.02%FS（20±2℃）,；其中50~200mA為0.05%RD±0.02%FS。
直流電壓源
a） 電壓輸出范圍：5μV~50V,，負載電流不小于10mA（20mV以上）,；
b） 量程：分五檔，20mV,、200mV,、2V、20V,、50V,，每檔均有粗調(diào)和細調(diào)；
c） 電壓輸出的基本誤差：0.05%RD±0.02%FS（20±2℃）,。
數(shù)字電壓表（4½LED）利用電壓源部分“取樣”端可對被測電壓進行測試
a） 測量量程 20mV,，200mV，2V,，20V,，200V
b） zui高分辨力 可達1µV
c） 基本誤差為 0.03%RD±0.02%FS （20±2ºC）
l SB120/2四探針樣品平臺（詳見該產(chǎn)品使用說明書）
為被測薄膜樣品，利用四探針測量方式測量導體/半導體樣品的電阻和電阻率,，提供了方便,。