WA-1150波長計(jì)光波長計(jì)提供zui高精度的波長測(cè)量,，同步功率測(cè)量,，專為在制造環(huán)境中表征WDM組件而設(shè)計(jì)。
這些系統(tǒng)采用Burleigh經(jīng)過驗(yàn)證的掃描邁克爾遜干涉儀波長計(jì)技術(shù),，通過比較其干涉條紋圖案與內(nèi)置HeNe激光波長標(biāo)準(zhǔn)的干涉條紋圖案來確定測(cè)試激光的波長,。與其他波長計(jì)不同，所有可能影響波長測(cè)量的因素都考慮在內(nèi),，以便使用WA-1150實(shí)現(xiàn)±1 ppm的zui高波長精度,。
為了提供更完整的WDM組件分析，這些Wavemeter同時(shí)測(cè)量光輸入信號(hào)的總功率,。此外,，漂移功能可根據(jù)時(shí)間自動(dòng)監(jiān)控波長或功率的任何變化。顯示當(dāng)前值及其與測(cè)量起始點(diǎn)的偏差,，以提供測(cè)試激光的實(shí)時(shí)狀態(tài),。還報(bào)告了大值和小值,，以給出測(cè)量期間達(dá)到的極限。
在這些系統(tǒng)中已經(jīng)結(jié)合了幾種針對(duì)WDM組件制造商需求的設(shè)計(jì)考慮因素,。通過內(nèi)置的HeNe激光波長標(biāo)準(zhǔn),，系統(tǒng)的精度可以長時(shí)間保持，無需校準(zhǔn),。測(cè)量周期時(shí)間短至0.1秒,，提高了波長表征的效率。堅(jiān)固耐用的臺(tái)式或機(jī)架式封裝可大限度地減少典型制造環(huán)境中的任何不利影響,。
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