測(cè)量技術(shù)優(yōu)良:利用光頻域反射計(jì)(OFDR)技術(shù),可測(cè)量背向散射或傳輸光隨距離的變化,,能夠提供高精度的分布式測(cè)量結(jié)果,。
測(cè)量功能豐富:可精確測(cè)量插入損耗(IL)、回波損耗(RL)分布以及長(zhǎng)度,,還能進(jìn)行光譜分析,,可同時(shí)在反射和透射模式下工作,全面分析光器件的性能,。
高靈敏度與分辨率:靈敏度高達(dá) - 135dB,,采樣分辨率為 20μm(500m 模式下為 80μm),能夠檢測(cè)到光器件中非常微小的變化,,適用于光子集成電路,、硅光子學(xué)等。
測(cè)量長(zhǎng)度可選:有不同的測(cè)量長(zhǎng)度模式可供選擇,,Luna 6415 的測(cè)量長(zhǎng)度為 20m 和 50m(可選 100m 和 200m),,Luna 6435 的測(cè)量長(zhǎng)度為 100m、200m 和 500m,,可滿(mǎn)足不同長(zhǎng)度光器件和光纖網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試需求,。
動(dòng)態(tài)范圍大:RL 動(dòng)態(tài)范圍達(dá) 70dB,可在不同光功率水平下準(zhǔn)確測(cè)量回波損耗,,適應(yīng)各種復(fù)雜的光鏈路環(huán)境,。
具備自動(dòng)檢測(cè)功能:能自動(dòng)檢測(cè) RL/IL 事件,方便用戶(hù)快速定位光器件中的異常點(diǎn),,提高測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
遠(yuǎn)程控制:支持通過(guò) SCPI 命令進(jìn)行遠(yuǎn)程控制,,便于集成到自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)中,,實(shí)現(xiàn)批量測(cè)試和遠(yuǎn)程操作。
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