- 獲得的測(cè)量和設(shè)計(jì)成果
- 通過取代大量機(jī)架式和堆疊式設(shè)備來簡(jiǎn)化測(cè)試站
- 通過全面、靈活的單次連接微波測(cè)試引擎可提高生產(chǎn)效率
- 使用廣泛的單次連接測(cè)量應(yīng)用軟件可縮短測(cè)試時(shí)間
- 使用出色的 PNA-X 儀器更精確地測(cè)試線性和非線性器件的特征
- Agilent/安捷倫
- 其他品牌
- KEYSIGHT/美國是德
- TeKtronix/美國泰克
- Santec/日本
- R&S/羅德與施瓦茨
- EXFO/加拿大
- 泰克
- FLUKE/福祿克
- YOKOGAWA/日本橫河
- Keithley/美國吉時(shí)利
- Anritsu/安立
- SRS/斯坦福
- ADCMT/愛德萬
- 美國力科
- HIOKI/日本日置
- FUJIKURA/藤倉
- OLYMPUS/奧林巴斯
- KIKUSUI/日本菊水
- BCHP/中惠普
- Newport/美國
- SHIMADZU/島津
- Ceyear/思儀
- 古河蓄電池
- RIGOL/普源
- Bruker/布魯克
- GWINSTEK/中國臺(tái)灣固緯
- HP/惠普
- SIGLENT/鼎陽
- XINGZHOU/興洲
- HACH/哈希
- Bristol/美國
- Waters/沃特世
- PICOTEST/中國臺(tái)灣儀鼎
- UNI-T/優(yōu)利德
- BIRD/美國鳥牌
- SPIRENT/思博倫
- Chroma/致茂
- ITECH/艾德克斯
- Mettler Toledo/梅特勒托利多
- OMRON/歐姆龍
- SPECTRUM/上海光譜
- TIMEPOWER/時(shí)代新維
- 智云達(dá)
- Ophir
- 中國臺(tái)灣博計(jì)
- EEC/中國臺(tái)灣華儀
- Siemens/西門子
- AP(Audio Precision)/美國
- 同惠電子
- HAMEG/德國惠美
- Nikon/日本尼康
- Hitachi/日立
- TDK-LAMBDA/日本
- OceanOptics/海洋光學(xué)
- KEYENCE/基恩士
- LitePoint/萊特波特
- 常州安柏