產(chǎn)品概述：
EXFO OPAL-SD單晶片半自動探針臺以其高精度,、可重復性,、自動化、可追溯性,、靈活性和可擴展性等特點,，在集成光子器件的測試領域具有廣泛的應用前景。無論是科研還是工業(yè)生產(chǎn)中的測試需求,，該設備都能提供準確可靠的測試結(jié)果,，并幫助用戶優(yōu)化測試流程和提高測試效率。
產(chǎn)品特點：
高精度與可重復性：
OPAL-SD單晶片半自動探針臺配備了高精度DC,、RF手動探針定位器以及超精密的光探針,，確保了測試的準確性和可重復性。
探針定位器能夠精確調(diào)整卡盤和裸片的位置,，從而實現(xiàn)微米級甚至納米級的定位精度,。
自動化與可追溯性：
該設備結(jié)合了PILOT軟件套件，提供了一個全面,、靈活,、可擴展的解決方案，能夠自動化測試流程并處理測量結(jié)果,。
PILOT軟件還提供了數(shù)據(jù)分析和人工智能建模功能,，幫助用戶將PIC的測量結(jié)果轉(zhuǎn)化為正確決策和行動,。
借助優(yōu)良的自動化軟件，用戶可以定義并維護電路元件,、設計參數(shù),、模擬結(jié)果、實驗結(jié)果和條件之間的邏輯結(jié)構(gòu),，實現(xiàn)絕對可追溯性。
靈活性與可擴展性：
OPAL-SD平臺的設計非常靈活,，可以通過同時設置多達4個探針的任意組合來滿足不同客戶的需求,。
光或電探針可以放置在被測設備周圍的任何朝向（北向、東向,、南向和西向）,，這種靈活性使得客戶能夠根據(jù)自己的需求定制和擴展測試。
全面的測試能力：
OPAL-SD單晶片半自動探針臺不僅支持簡單的連通性或隔離性檢查,，還支持復雜的微電路完整功能測試,。
該設備能夠結(jié)合EXFO系列儀表的優(yōu)良光學測量功能，進行光譜分析以及誤碼率等光電測試,。
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