產(chǎn)品概述：
EXFO CT440/CT440-PDL光學(xué)元件測試儀以其高精度、多通道測量,、可調(diào)諧激光器兼容以及偏振保持和偏振相關(guān)損耗測量等特點，成為光纖通信和光網(wǎng)絡(luò)測試領(lǐng)域的重要工具,。
產(chǎn)品特點：
測試范圍廣泛：
覆蓋從1240到1680nm的頻譜范圍,，適用于整個電信波段上的測量。
可同時測量無源光器件（如復(fù)用器/解復(fù)用器、濾波器,、分光器等）和模塊（如ROADM,、WSS）的性能。
高精度測量：
波長精準度達到±5pm,，波長分辨率在1至250pm之間可調(diào)。
單次激光器掃描的動態(tài)范圍為65dB，確保測量的準確性,。
多通道測量：
配備四個內(nèi)部檢測器,，支持同時測量四個通道,，提高測試效率,。
可調(diào)諧激光器兼容：
最多可結(jié)合4個可調(diào)諧激光器（SMF型號）,，實現(xiàn)無縫的全波段測量。
兼容EXFO的T200S/T500S和T100S-HP連續(xù)可調(diào)諧激光器。
偏振保持（PM）和偏振相關(guān)損耗（PDL）測量：
CT440-PDL型號集成了一個偏振態(tài)發(fā)生器，能夠鑒定插損和偏振相關(guān)損耗的頻譜（基于穆勒矩陣法）,。
可選購偏振保持（PM）光纖,，用于測量對偏振敏感的器件（如MZ調(diào)制器）的插損。
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