在真空環(huán)境下對高速等離子體鍍層過程反射率的實(shí)時(shí)監(jiān)測是光譜學(xué)測量的一項(xiàng)應(yīng)用,。

Avantes對在真空環(huán)境下測量有著豐富的經(jīng)驗(yàn),，并提供各種儀器和配件以滿足真空光譜學(xué)的需要。這些技術(shù)經(jīng)常用于點(diǎn)檢測等復(fù)雜的過程控制監(jiān)控,?？梢詫σ粋€(gè)峰值或一定的波長范圍進(jìn)行監(jiān)測,，以檢測出一個(gè)在過程結(jié)束時(shí)光譜偏移帶來的拐點(diǎn),。在進(jìn)行高真空(~10-3 torr)和超高真空(~10−9 torr)測量時(shí)，需要特別注意所選用的光譜儀和光纖,。Avantes對在真空環(huán)境下測量有著豐富的經(jīng)驗(yàn),，并提供各種儀器和配件以滿足真空光譜學(xué)的需要,。