Chroma 3110 雙用單站測(cè)試分類(lèi)機(jī)

3110 不 但適用于系統(tǒng)功能檢測(cè),，也同時(shí)具備終端電性測(cè) 試的能力,?？删C合各元件的整體效能并執(zhí)行測(cè)試 系統(tǒng)上的所有測(cè)試程式，旨在提供一個(gè)全能的解 決方案,。

支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm,，配備有 自動(dòng)進(jìn)出料分類(lèi)艙及手動(dòng)分類(lèi)盤(pán)，可優(yōu)化工程 測(cè)試的實(shí)驗(yàn)數(shù)量,。簡(jiǎn)易操作的操控畫(huà)面,，及適配 性高的testers連接介面，大幅提升機(jī)臺(tái)的使用率 及共用性,。除此之外,，它能針對(duì)不同的測(cè)試環(huán)境 條件,，提供數(shù)個(gè)溫控系統(tǒng)的選擇,，如三溫控制系 統(tǒng),、高功率冷卻系統(tǒng)等,，測(cè)試的環(huán)境溫度可設(shè)置 于常溫、高溫或低溫,。

Chroma 3110 雙用單站測(cè)試分類(lèi)機(jī)的特色：

• 雙用單站測(cè)試分類(lèi)機(jī)
• 適用於終端測(cè)試或系統(tǒng)功能測(cè)試
• 自動(dòng)進(jìn)料出料艙的配置及依測(cè)試結(jié)果自動(dòng)分類(lèi)的功能
• 測(cè)頭內(nèi)建氣室,，可吸收及減緩下壓觸力的衝擊
• 智能型的載盤(pán)IC殘留偵測(cè)
• 可選配的三溫控制系統(tǒng) (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃) 
• 可選配的高功率冷卻系統(tǒng)
• 理想的產(chǎn)品工程或研發(fā)實(shí)驗(yàn)設(shè)備機(jī)，可自動(dòng)蒐集與分析測(cè)試,、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的數(shù)據(jù)