Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測(cè)試系統(tǒng)在設(shè)計(jì)其架構(gòu)時(shí)，應(yīng)用先進(jìn) 的規(guī)劃,，具備AD/DA轉(zhuǎn)換器測(cè)試模組,、ALPG記 憶體測(cè)試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測(cè)試模組,、類比測(cè)試模組等等選配,，以確保 符合未來(lái)多年的測(cè)試需求。另Chroma 3650-EX具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模組,，可實(shí)現(xiàn)從 設(shè)計(jì)端至量產(chǎn)端使用同一PXI平臺(tái)已減少因硬體 不同所造成的測(cè)試誤差,。它的軟體測(cè)試環(huán)境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form)，是一個(gè)結(jié)合工程開(kāi)發(fā)與量 產(chǎn)需求的軟體平臺(tái),。主要包含四個(gè)部份 : 執(zhí)行控 制模組,、資料分析模組、程式除錯(cuò)模組以及測(cè) 試機(jī)臺(tái)管理模組,。透過(guò)親切的圖形人機(jī)介面的 設(shè)計(jì),，CRISP提供多樣化的開(kāi)發(fā)與除錯(cuò)工具,，包 含:Shmoo plot,、Waveform tool、Scope tool,、Pin Margin,、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發(fā)/測(cè)試工程師開(kāi)發(fā)程式時(shí)的需 求 ; 此外,，Histogram tool 可用于重復(fù)任一測(cè)試 參數(shù),，包含時(shí)序、電壓,、電流等,，以評(píng)估其測(cè)試 流程之穩(wěn)定度。

Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測(cè)試系統(tǒng)特色：

• 50/100MHz測(cè)試工作頻率
• 1024個(gè) I/O 通道(I/O Channel)
• 32M (64M Max.) Pattern 記憶體 (Pattern Memory)
• Per-Pin 彈性資源架構(gòu)
• 512 DUTS 平行測(cè)試功能
• 96個(gè)電源通道
• 硬體規(guī)則模式產(chǎn)生器 (Algorithmic Pattern Generator)
• BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測(cè)試模組選項(xiàng)
• 好學(xué)易用的 WINDOWS 7作業(yè)環(huán)境
• 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
• 每片 HDADDA 混合訊號(hào)單板可支援32通道
• 彈性化的 MS C/C++ 程式語(yǔ)言
• 即時(shí)pattern編輯器,，含F(xiàn)ail pin/address顯示
• 測(cè)試程式/測(cè)試pattern轉(zhuǎn)換軟體(J750-EX)
• 多樣化測(cè)試分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool,Histogram tool 等
• 實(shí)惠的SoC和消費(fèi)性混合信號(hào)晶片產(chǎn)品測(cè)試方案