一,、NDT-RAM介紹

   PCB NDT-RAM 無(wú)損探傷系統(tǒng)是無(wú)損探傷技術(shù)的一種,，全稱為Non Destructive Testing-Resonant Acoustic Method，中文稱為無(wú)損探測(cè)-諧振聲學(xué)法,。

   PCB NDT-RAM 無(wú)損探傷系統(tǒng)是一種諧振檢查（RI）方法,。該方法在不破壞結(jié)構(gòu)的前提下,，提供了針對(duì)結(jié)構(gòu)件內(nèi)部及外部缺陷的無(wú)損檢測(cè)方法，能夠探測(cè)諸如零件的外形尺寸,、重量和密度發(fā)生變化,、裂紋、孔隙,、夾雜,、褶皺等多種異常和瑕疵，也可以用來(lái)檢測(cè)是否遺漏熱處理或機(jī)加工等工序,。

二,、NDT-RAM的優(yōu)點(diǎn)

    PCB NDT-RAM 無(wú)損探傷系統(tǒng)相比于超聲波、磁粉,、電渦流,、射線法等無(wú)損探傷技術(shù)，NDT-RAM技術(shù)具有以下優(yōu)點(diǎn)：

• 簡(jiǎn)單可靠

• 持續(xù)性零件質(zhì)量監(jiān)控,，實(shí)現(xiàn)零件檢測(cè),；

• 檢測(cè)整個(gè)零件；

• 零件無(wú)需清洗,、磁化或消磁,、染色等預(yù)處理；

• 檢測(cè)快速,、客觀,；

• 自動(dòng)分揀；

• 可擴(kuò)展至過(guò)程控制,；

• 極大降低檢測(cè)成本,，提高檢測(cè)速度。

NDT-RAM技術(shù)適用的工藝和典型缺陷見(jiàn)下表：

NDT-RAM技術(shù)和其他無(wú)損探傷技術(shù)的簡(jiǎn)要對(duì)比見(jiàn)下表：

可測(cè)試的零部件例如：

三,、PCB NDT-RAM 無(wú)損探傷系統(tǒng)

PCB Piezotronics, Inc 二十多年來(lái)一直致力于探索NDT-RAM技術(shù)、研發(fā)NDT-RAM產(chǎn)品,，相繼推出了RAM-AUTO,、RAM-DROP、RAM-TEST-SEMI,、RAM-TEST-FIXTURE,、RAM-TEST-MANUL等多種型號(hào)的NDT-RAM產(chǎn)品，以滿足不同用戶的需求,。

NDT-RAM 產(chǎn)品面世至今,，在市場(chǎng)應(yīng)用上贏得了良好的口碑,。迄今為止，已有750多套產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于全球的粉末冶金、鍛造、鑄造,、焊接、球墨鑄鐵、機(jī)械制造等多個(gè)行業(yè),。