隨著光通信行業(yè)的核心組件光模塊邁向800G/1.6T的時(shí)代,，光模塊的通道數(shù)量逐漸增加，同時(shí),，隨著硅光技術(shù)的發(fā)展,，器件密度也顯著提高。這為光電器件或硅光芯片的測試要求,，比如激光器和調(diào)制器的LIV掃描測試帶來了更高的挑戰(zhàn),，需要測試設(shè)備具備更高的通道密度、更小的體積,、更快的測試速度以及更高的測量精度,。

一、20路并行使用的SMU源表需要占用多少體積?

二,、PXI平臺(tái)-SMU源表

PXI平臺(tái)提供高精度和高通道密度的SMU源表,，可以滿足硅光芯片和光電器件DC測試需求。結(jié)合配套的Optoelectronic Component Test Software,，實(shí)現(xiàn)快速的測試開發(fā)和部署,，加速產(chǎn)品上市時(shí)間。

三,、PXI平臺(tái)-其他電學(xué)與光學(xué)儀表

PXI平臺(tái)同時(shí)支持豐富的光學(xué)儀器儀表,，可覆蓋硅光芯片的典型測項(xiàng),。通過進(jìn)一步的集成搭建更緊湊,、高效協(xié)同的光模塊測試系統(tǒng)。