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FTIR920-二氧化硅的紅外光譜測(cè)定
  • FTIR920-二氧化硅的紅外光譜測(cè)定

貨物所在地:天津天津市

地: 天津

更新時(shí)間:2025-01-20 21:00:07

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在電力,、煤炭等行業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,粉塵中游離二氧化硅含量較高,粉塵的分散度也比較高,,即多為呼吸性粉塵,,對(duì)作業(yè)人員的危害較大。因此,,加強(qiáng)對(duì)粉塵中游離二氧化硅含量的檢測(cè)是一件非常重要和緊迫的工作,。以往檢測(cè)均采用“焦磷酸重量法",該方法存在操作步驟復(fù)雜,、使用試劑種類繁多,、檢測(cè)周期長(zhǎng)、準(zhǔn)確性差,、試驗(yàn)室條件要求苛刻等一系列問題,,難以滿足現(xiàn)場(chǎng)批量檢測(cè)的要求。二氧化硅的紅外光譜測(cè)定,,提高了檢測(cè)的準(zhǔn)確性,實(shí)現(xiàn)批量檢測(cè)

二氧化硅的紅外光譜測(cè)定

在電力,、煤炭等行業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,粉塵中游離二氧化硅含量較高,粉塵的分散度也比較高,,即多為呼吸性粉塵,,因此對(duì)作業(yè)人員的危害較大,,主要包括鼻炎、咽炎,、氣管炎,、支氣管炎等呼吸系統(tǒng)疾病。因此,,加強(qiáng)對(duì)粉塵中游離二氧化硅含量的檢測(cè)是一件非常重要和緊迫的工作,。以往檢測(cè)均采用“焦磷酸重量法",該方法存在操作步驟復(fù)雜,、使用試劑種類繁多,、檢測(cè)周期長(zhǎng)、準(zhǔn)確性差,、試驗(yàn)室條件要求苛刻等一系列問題,,難以滿足現(xiàn)場(chǎng)批量檢測(cè)的要求。為了提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性,,實(shí)現(xiàn)批量檢測(cè)的目的,,二氧化硅的紅外光譜測(cè)定可選用FTIR920型傅立葉變換紅外光譜儀來檢測(cè)粉塵中游離二氧化硅含量,。

二氧化硅的紅外光譜測(cè)定 檢測(cè)原理:

α-石英在紅外光譜中于 12.5μm(800cm-1),、12.8μm(780cm-1)及 14.4(694cm-1)μm處出現(xiàn)特異性強(qiáng)的吸收帶,在一定范圍內(nèi),,其吸光度值與α-石英質(zhì)量成線性關(guān)系,。通過測(cè)量吸光度,進(jìn)行定量測(cè)定,。

二氧化硅的紅外光譜測(cè)定 儀器配置:

FTIR920傅立葉變換紅外光譜儀
FW-4A粉末壓片機(jī)
HF-2壓片膜具
HF-5藥片架
HW-6瑪瑙研缽
100g/制樣粉末(光譜純)
HW-3紅外烘干箱









二氧化硅的紅外光譜測(cè)定 制樣準(zhǔn)備:

1. 瓷坩堝和坩堝鉗,;

2. 箱式電阻爐或低溫灰化爐;

3. 十萬分之一天平,;

4. 200目過濾篩,;

5. 濾紙、稱量紙 若干,;

6. 無水乙醇,;

7. 手套、脫脂棉,、小藥勺,、玻璃取樣瓶;

8. 游離二氧化硅標(biāo)準(zhǔn)品(純度高于95%),;

9. 采集的粉塵樣品,。樣品的采集:根據(jù)測(cè)定目的,樣品的采集方法參見 GBZ 159 和 GBZ/T 192.2 或 GBZ/T 192.1,,濾膜上采集的粉塵量大于 0.1mg 時(shí),,可直接用于本法測(cè)定游離二氧化硅含量,。

二氧化硅的紅外光譜測(cè)定 測(cè)定:

1、樣品處理

準(zhǔn)確稱量采有粉塵的濾膜上粉塵的質(zhì)量(G),。然后將受塵面向內(nèi)對(duì)折 3 次,,放在瓷坩堝內(nèi),置于低溫灰化爐或電阻爐(小于 600℃)內(nèi)灰化,,冷卻后,,放入干燥器內(nèi)待用。稱取 250mg 制樣粉末和灰化后的粉塵樣品一起放入瑪瑙乳缽中研磨混勻后,,連同壓片模具一起放入干燥箱(110℃±5℃)中10min,。將干燥后的混合樣品置于壓片模具中,加壓25MPa,,持續(xù) 3min,,制備出的錠片作為測(cè)定樣品。同時(shí),,取空白濾膜一張,,同樣處理,作為空白對(duì)照樣品,。

2、石英標(biāo)準(zhǔn)曲線的繪制

精確稱取不同質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)α-石英塵(0.01mg ~1.00mg),,分別加入250mg 制樣粉末,,置于瑪瑙乳缽中充分研磨均勻,按上述樣品制備方法做出透明的錠片,。將不同質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)石英錠片置于樣品室光路中進(jìn)行掃描,,紅外軟件以 X 軸橫坐標(biāo)記錄 1000cm-1~600cm-1 的譜圖,在 900cm-1 處校正零點(diǎn)和 100%,,以 Y 軸縱坐標(biāo)表示吸光度,。

以 800cm-1、780cm-1 及 694cm-1 三處的吸光度值為縱坐標(biāo),,以石英質(zhì)量(mg)為橫坐標(biāo),,繪制三條不同波長(zhǎng)的α-石英標(biāo)準(zhǔn)曲線,并求出標(biāo)準(zhǔn)曲線的回歸方程式,。在無干擾的情況下,,一般選用 800 cm-1標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行定量分析。

3,、樣品測(cè)定

分別將樣品錠片與空白對(duì)照樣品錠片置于樣品室光路中進(jìn)行掃描,,記錄800cm-1(或 694cm-1)處的吸光度值,重復(fù)掃描測(cè)定 3 次,,測(cè)定樣品的吸光度均值減去空白對(duì)照樣品的吸光度均值后,,由α-石英標(biāo)準(zhǔn)曲線得樣品中游離二氧化硅的質(zhì)量(m),。

二氧化硅的紅外光譜測(cè)定 計(jì)算

按公式計(jì)算粉塵中游離二氧化硅的含量:SiO2(F)= m/G× 100

公式中:

SiO2(F)——粉塵中游離二氧化硅(α-石英)的含量,%,;

m ——測(cè)得的粉塵樣品中游離二氧化硅的質(zhì)量,,mg;

G ——粉塵樣品質(zhì)量,,mg,。

二氧化硅的紅外光譜測(cè)定 注意事項(xiàng)

1、本法的α-石英檢出量為 0.01mg,;相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)差(RSD)為 0.64%~1.41%,。

2、粉塵粒度大小對(duì)測(cè)定結(jié)果有一定影響,,因此,,樣品和制作標(biāo)準(zhǔn)曲線的石英塵應(yīng)充分研磨,使其粒度小于 5μm 者占 95%以上,,方可進(jìn)行分析測(cè)定,。

3、灰化溫度對(duì)煤礦塵樣品定量結(jié)果有一定影響,,若煤塵樣品中含有大量高嶺土成分,,在高于 600℃灰化時(shí)發(fā)生分解,于 800cm-1 附近產(chǎn)生干擾,,如灰化溫度小于 600℃時(shí),,可消除此干擾帶。

4,、在粉塵中若含有粘土,、云母、閃石,、長(zhǎng)石等成分時(shí),,可在 800cm-1 附近產(chǎn)生干擾,則可用 694cm-1 的標(biāo)準(zhǔn)曲線進(jìn)行定量分析,。

5,、為降低測(cè)量的隨機(jī)誤差,實(shí)驗(yàn)室溫度應(yīng)控制在 18℃~24℃,,相對(duì)濕度小于 50%為宜,。制備石英標(biāo)準(zhǔn)曲線樣品的分析條件應(yīng)與被測(cè)樣品的條件一致,以減少誤差,。




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