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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
高低溫冷熱沖擊試驗箱用途介紹
設(shè)備是通過高溫儲能槽與低溫儲能槽快速溫度轉(zhuǎn)換來實現(xiàn)對半導(dǎo)體,、5納米芯片、動力電池,、電路主板,、石墨烯屏幕、華為手機屏,，iPhone觸摸屏,、watch在*溫和極低溫的環(huán)境中進(jìn)行冷熱交替膨脹和收縮試驗，使產(chǎn)品中產(chǎn)生高溫變應(yīng)力和應(yīng)變來發(fā)現(xiàn)潛存于產(chǎn)品中的零件材料瑕疵,、制程瑕疵,、工藝瑕疵提前曝露,。避免產(chǎn)品在使用過程中受到環(huán)境應(yīng)力的考驗時而導(dǎo)致失效，對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果,。
設(shè)備編程測試程序
1.CJ602S3I
(1)高溫暴125℃,，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min,。
(2)高溫150℃暴露30min,，環(huán)境溫度5min，低溫-55℃暴露30min,。
2.CJ602SII
(1)高溫暴露125℃,，低溫暴露-40℃，暴露時間均30min,。
(2)高溫暴露 150℃,，低溫暴露-55℃，暴露時間均30min,。
(3)高溫150℃暴露30min,，環(huán)境溫度5 min，低溫-55℃暴露30min,。
3.CJ603S3I
(1)高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃,，暴露時間均30min,。
(2)高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5 min,，低溫-55℃暴露30min,。
4.CJ603S3II
(1)高溫暴露125℃，低溫暴露-40℃,，暴露時間均30min,。
(2)高溫暴露150℃，低溫暴露-55℃,，暴露時間均30min,。
(3)高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5 min,，低溫-55℃暴露30min,。
5.CJ605S3I
(1)高溫125℃暴露，低溫-40℃暴露,，暴露時間均30min,。
(2)高溫150℃暴露30min，環(huán)境溫度5 min,，低溫-55℃暴露30min,。
6.CJ605S3II
(1)高溫150℃暴露30min,，低溫- 55℃暴露30min。
(2)高溫125℃暴露,，低溫-40℃暴露,，暴露時間均30min。
(3)高溫125℃暴露30min,，環(huán)境溫度暴露5 min,，低溫-55℃暴露30min。
高低溫冷熱沖擊試驗箱滿足測試標(biāo)準(zhǔn)及條件
1.GB/T2423.1-2001低溫試驗方法,。
2.QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則,。
3.滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化。
4.SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式,。
5.SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式,。
6.GB/T2423.2-2001；GB/T2423.22-1989溫度變化試驗N,。
7.GJB360.7-87溫度沖擊試驗,；GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
8.GJB150.3-86,；GJB150.4-86,；GJB150.5-86；GJB150.5-86溫度沖擊試驗,。
9.EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估,。
10.GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則；GB/T 2423.22-2002溫度變化,。
11.設(shè)備的型號和規(guī)格選擇如下：
