溫濕度試驗(yàn)箱用途

中科測試設(shè)備是綜合氣候環(huán)境試驗(yàn)箱專業(yè)制造商,。設(shè)備可模擬高溫高濕試驗(yàn),、濕熱試驗(yàn)、冷熱循環(huán)試驗(yàn),、雙85試驗(yàn),、雙95試驗(yàn)等可靠性氣候環(huán)境試驗(yàn)。主要應(yīng)用在航空工業(yè)研發(fā),、高校院所科研,、半導(dǎo)體元器件、芯片制備,、新能源汽車制造,、動力電池生產(chǎn)、智能手機(jī)研發(fā),、LED制造,、太陽能光伏組件制造、光電通訊器件等行業(yè)及其產(chǎn)品,、零部件及材料在高低溫交變溫濕環(huán)境下貯存,、運(yùn)輸、使用時適應(yīng)性的可靠性試驗(yàn),。

溫濕度試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)

1. 標(biāo)準(zhǔn)容積：80L,，120L,，150L，225L,，306L,，408L，800L,，1000L,。

2. 溫度范圍：0～+150℃；-20～+150℃,；-40～+150℃,；-60～+150℃；-70～+150℃,。

3. 濕度范圍：20%～98%R.H,。（選購：5%～98%R.H或10%～98%R.H，溫濕度全程同步線性,。）

4. 溫度波動度：±0.5℃,。

5. 濕度波動度：±1.0%R.H。

6. 溫度均勻度：≦2.0℃,。

7. 濕度均勻度：±3.0%R.H,。

8. 溫度/濕度偏差：≦±2.0℃/≦3.0%R.H。

9.升溫速率：3℃～4℃/min,。（選購：5℃/min,、10℃/min、15℃/min,、20℃/min,、25℃/min，快速溫變線性或非線性機(jī)型,。）

10.降溫速率：0.7℃～1℃/min,。（選購：5℃/min、10℃/min,、15℃/min,、20℃/min、25℃/min,，快速溫變線性或非線性機(jī)型,。）

11. 內(nèi)箱材質(zhì)：SUS304#鏡面不銹鋼。

12. 外箱材質(zhì)：優(yōu)質(zhì)寶鋼冷軋鋼板靜電噴塑防腐處理,。

13. 制冷系統(tǒng)：*壓縮機(jī)低噪音模塊化設(shè)計風(fēng)冷或水冷制冷機(jī)組,。

14. 加熱系統(tǒng)：進(jìn)口SUS304#不銹鋼鰭片式耐濕、耐熱、耐寒加熱管,，加熱空氣式控溫,。

15. 加濕系統(tǒng)：鈦合金護(hù)套式電加熱加濕器,，均勻濕氣發(fā)生裝置,。

16. 節(jié)能方式：冷端PID調(diào)節(jié)（即加熱不制冷，制冷不加熱）,，比平衡調(diào)溫方式節(jié)能30%,。

17. 制冷劑：R404a/R23。

18. 制冷方式：機(jī)械單級制冷或二元復(fù)疊制冷,。

19. 保護(hù)裝置：壓縮機(jī)過載,、過流、超壓保護(hù),；漏電保護(hù),；內(nèi)箱超溫保護(hù)；加熱管空焚保護(hù),。

20. 標(biāo)準(zhǔn)配置：觀測窗一個,；LED視窗燈一支；保險管2支,；物料架2套,。

21. 電源：AC220V(三線制）±10% 或 AC380V（五線制）±5%。

22. 溫濕度循環(huán)試驗(yàn)箱標(biāo)準(zhǔn)型號和規(guī)格選擇如下,，可按需求非標(biāo)定制,。

 型 號           內(nèi)箱尺寸（mm）          外箱尺寸（mm）  

ZK- HWS-80L       W400×H500×D400        W1000×H1330×D850

ZK-HWS-120L       W500×H600×D400        W1000×H1530×D850

ZK-HWS-150L       W500×H600×D500        W1000×H1850×D950

ZK-HWS-225L       W500×H750×D600        W1000×H1680×D1050

ZK-HWS-408L       W600×H850×D800        W1100×H1780×D1250

ZK-HWS-800L       W1000×H1000×D800       W1500×H1930×D1250

ZK-HWS-1000L      W1000×H1000×D1000      W1500×H1930×D1450

溫濕度循環(huán)試驗(yàn)箱參考標(biāo)準(zhǔn)

1.GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件。

2.GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,。

3.GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則,。

4.GJB 150.3A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分：高溫試驗(yàn)。

5.GJB 150.4A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn),。

6.GJB 150.9A-2009 軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：濕熱試驗(yàn),。

7.GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫。

8.GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫,。

9.GB/T 2423.3-2016 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn),。

10.GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db：交變濕熱。

11.GB/T 2423.22-2012（IEC68-2-14）試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn),。

12.GB/T 2423.34-2012 （IEC68-2-38）試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn),。