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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣,綜合 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
一,、芯片加速老化箱用于國防,、航天、汽車部件,、電子零配件,、塑膠、磁鐵行業(yè),、制藥線路板,，多層線路板,、IC、LCD,、磁鐵,、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),，高壓壽命老化箱，三綜合試驗(yàn)機(jī),。
二,、芯片加速老化箱特點(diǎn)
1.不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),， 可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì),。
2.圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設(shè)計(jì),，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品,。
3.精密設(shè)計(jì)，氣密性良好,，耗水量少,，每次加水可連續(xù)200h。
4.自動(dòng)門禁,，圓型門自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,，安全門把設(shè)計(jì)，箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù),。
5.箱內(nèi)壓力愈大時(shí),，packing會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合，可延長(zhǎng)packing壽命,。
6.實(shí)驗(yàn)開始前之真空動(dòng)作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn),。以確保箱內(nèi)之純凈度。
7.臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù),，異常原因與故障指示燈顯示,。
三、半導(dǎo)體高溫高壓試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)
型 號(hào)： | ZK-PCT-25 | ZK-PCT-35 | ZK-PCT-45 | ZK-PCT-65 |
內(nèi)部尺寸(W×H×D)mm： | Φ250×300 | Φ300×450 | Φ450×500 | Φ600×650 |
外箱尺寸(W×H×D)mm： | 500×500×700 | 580×850×650 | 800×750×900 | 950×900×1100 |
使用溫度： | 121℃,；132℃,；(143℃特殊選用) | |||
使用濕度： | 100％RH飽和蒸氣濕度 | |||
使用蒸氣壓力(壓力)： | 1個(gè)環(huán)境大氣壓 +0.0Kg/cm2 - 2.0Kg/cm2 ；(3.0Kg/cm2屬于特殊規(guī)格) | |||
循環(huán)方式： | 水蒸氣自然對(duì)流循環(huán) | |||
安全保護(hù)裝置： | 缺水保護(hù),，超壓保護(hù),、 (具有自動(dòng)/手動(dòng)補(bǔ)水功能，自動(dòng)瀉壓功能) | |||
配 件： | 不銹鋼隔板兩層 | |||
電 源： | AC220V,，50／60Hz／AC380V , 50／60Hz | |||
四,、芯片加速老化箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)室技術(shù)條件,。
2.GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn)。
3.MIL-STD810D方法502.2,。
4.GJB150.9-8溫濕試驗(yàn),。
5.GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度,、高壓組合循環(huán)試驗(yàn),。
公司主營產(chǎn)品：冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒濕恒濕試驗(yàn)箱,、高低溫試驗(yàn)箱,、步入式溫濕交變?cè)囼?yàn)室、高低溫濕熱交變?cè)囼?yàn)機(jī),、高溫老化房,、快速溫變?cè)囼?yàn)箱、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱,、pct測(cè)試儀 ,、中科pct測(cè)試設(shè)備、紫外線耐候老化試驗(yàn)箱,、氙燈耐候老化試驗(yàn)箱,、耐寒折彎試驗(yàn)箱、砂塵試驗(yàn)箱,、淋雨試驗(yàn)箱,、臭氧老化試驗(yàn)箱、換氣老化試驗(yàn)箱,、恒溫鼓風(fēng)干燥試驗(yàn)箱,、太陽光伏組件試驗(yàn)箱、振動(dòng)試驗(yàn)機(jī),、跌落試驗(yàn)機(jī),、拉力試驗(yàn)機(jī)等可靠性試驗(yàn)設(shè)備以及定做非標(biāo)機(jī)型。
