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HAS非飽和高壓加速老化試驗機(jī)具體指導(dǎo)方法
HAST非飽和高壓加速老化試驗機(jī)具體指導(dǎo)方法：壓力蒸煮鍋試驗(PCT)結(jié)構(gòu)：試驗箱由一個壓力容器組成,，壓力容器包括一個能産生100%（潤濕）環(huán)境的水加熱器，待測品經(jīng)過PCT試驗所出現(xiàn)的不同失效可能是大量水氣凝結(jié)滲透所造成的,。
HAST非飽和高壓加速試驗機(jī)常見失效時期：
早期失效期(早夭期,，InfantMortalityRegion)：不夠完善的生産、存在缺陷的材料,、不合適的環(huán)境,、不夠完善的設(shè)計。
隨機(jī)失效期(正常期,，UsefulLifeRegion)：外部震蕩,、誤用、環(huán)境條件的變化波動,、不良抗壓性能,。
退化失效期(損耗期，WearoutRegion)：氧化,、疲勞老化,、性能退化、腐蝕,。
說明：HAST非飽和高壓加速試驗機(jī)又稱PCT試驗一般稱為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗,，主要是將待測品置于嚴(yán)苛之溫度、飽和濕度(100%R.H.)[飽和水蒸氣]及壓力環(huán)境下測試,，測試代測品耐高濕能力,，針對印刷線路板(PCB&FPC)，用來進(jìn)行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗..等試驗?zāi)康?，如果待測品是半導(dǎo)體的話，則用來測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,，如果半導(dǎo)體封裝的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之介面滲入封裝體之中,，常見的故裝原因：爆米花效應(yīng),、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦贰⒎庋b體引腳間因污染造成之短路..等相關(guān)問題,。
澡盆曲線：澡盆曲線(Bathtubcurve,、失效時期)，又用稱為浴缸曲線,、微笑曲線,，主要是顯示產(chǎn)品的于不同時期的失效率，主要包含早夭期(早期失效期),、正常期(隨機(jī)失效期),、損耗期(退化失效期),，以環(huán)境試驗的可靠度試驗箱來說得話，可以分爲(wèi)篩選試驗、加速壽命試驗(耐久性試驗)及失效率試驗等,。進(jìn)行可靠性試驗時"試驗設(shè)計"、"試驗執(zhí)行"及"試驗分析"應(yīng)作爲(wèi)一個整體來綜合考慮,。