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HORIBA科學儀器事業(yè)部

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[供應]SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀

貨物所在地:上海上海市

更新時間:2025-02-12 21:00:07

有效期:2025年2月12日 -- 2025年8月12日

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SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀? 是 HORIBA Scientific 推出的納米粒子解析裝置,可更高靈敏度、高精度地評價單一納米粒子,并能*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。該儀器被廣泛應用于陶瓷粒子,、金屬納米粒子、石炭,、制藥,、病毒、顏料和涂料,、化妝品,、聚合物,、食品和 CMP 等的檢測。

儀器簡介:

SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀? 是 HORIBA Scientific 推出的納米粒子解析裝置,,可更高靈敏度,、高精度地評價單一納米粒子,并能*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu),。該儀器被廣泛應用于陶瓷粒子,、金屬納米粒子、石炭,、制藥,、病毒、顏料和涂料,、化妝品,、聚合物、食品和 CMP 等的檢測,。

高靈敏度,、高精度的測量
*表征單一體系納米尺度粒子
*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)

SZ-100 納米粒度/Zeta電位分析儀? 應用范圍 
● 陶瓷粒子 ● 金屬納米粒子 ● 碳黑 ● 制藥 ● 病毒 ● 涂料
● 化妝品  ● 聚合物     ● 食品 ● CMP● 顏料、油墨

 

 



技術(shù)參數(shù):

粒子直徑測定
● 超寬動態(tài)光散射測量范圍: 0.3nm~8000nm
●通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關(guān)器,,實現(xiàn)高性能化,。
●在單一納米粒子光學系統(tǒng)中,采用更低雜散光90°檢測光學系統(tǒng),。
●雙光路系統(tǒng)(90°和173°)適用于更寬濃度范圍的樣品測量,,可以進行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束,、聚合物等低濃度樣品的測定,。

Zeta電位測定
●通過安裝HORIBA自主研發(fā)的標準微型樣品池,可以測定僅100μL的樣品,。



主要特點:

●超小體積設計
● 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑,、Zeta電位和分子量,。
●樣品濃度從PPM到百分之幾十,,SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定。
●HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池,, 可以測定僅100μL的Zeta電位,。
●廣泛應用于膠質(zhì)粒子、 機能性納米粒子,、 高分子,、膠束、 核糖體,、 納米囊等的測定,。
●操作簡單,,進樣、設定參數(shù)后,,只要按開始按鈕即可得到測量結(jié)果,。

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