GD-Profiler HR射頻輝光放電光譜儀擁有*的超高光譜分辨率,，為解決復雜基體中的疑難問題提供了適宜,、便利的方法,。
 

GD-Profiler HR射頻輝光放電光譜儀技術(shù)參數(shù)：

1,、射頻發(fā)生器-標準配置,、復合D級標準、穩(wěn)定性高,、濺射束斑為平坦,、等離子體穩(wěn)定時間短、表面信息無任何失真。

2,、脈沖工作模式既可以分析常規(guī)的涂/鍍層和薄膜,，也可以很好地分析熱導性能差和熱易碎的涂/鍍層和薄膜,。

3,、Polyscan多道（同時）光譜儀可全譜覆蓋，光譜范圍從110nm-800nm,，可測試遠紫外元素C,、H、O,、N和Cl,。

4、HORIBA的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器擁有zui大的光通量,，因而擁有的光效率GD敏度,。

5、高動態(tài)檢測器（HDD）可快速,、高靈敏地檢測ppm-100%含量的元素,。動態(tài)范圍為5×10¹⁰。

6,、寬大的樣品室方便各類樣品的加載,。

7、功能強大的Quantum軟件可以靈活方便的輸出各種格式的檢測報告,。

8,、HORIBA*的單色儀（選配）可大的提高儀器的靈活性，可實現(xiàn)固定通道外任意一個元素的同步測試,，稱為n+1,。

9、適用于ISO14707和16962標準,。

10,、GD-Profiler HR多色儀焦距為1米，光譜分辨率可達14pm,，zui多可同時分析58種元素,。

11、GD-Profiler HR可選配焦距為1米的單色儀,，zui高光譜分辨率達9pm,。