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HORIBA|半導體領(lǐng)域研究——沾污、膜厚,、超晶格結(jié)構(gòu)等信息
半導體在電視,、智能設備、顯示屏等方面有著廣泛的應用,。那么我們該如何識別半導體沾污,、獲得應力表征、膜厚分析,、超晶格結(jié)構(gòu),、晶體管、介電材料等信息呢,?
10月30日,,4大講師深度剖析
如何利用光譜技術(shù)分析半導體材料?
只要準備電腦和網(wǎng)絡,,即可參與
1 孫正飛
研究方向:光學光譜,、熒光等
負責光學光譜儀的應用支持,光學背景深厚,??筛鶕?jù)用戶實際需求提供優(yōu)異靈活的的光譜測試方案,包括光致發(fā)光,、拉曼,、熒光,、透射/反射/吸收等,。
2 文豪博士
研究方向:橢圓偏振光譜
畢業(yè)于上海硅酸鹽研究所,擅長光譜橢偏建模,、薄膜分析,,長期為用戶提供橢偏技術(shù)培訓等工作。
3 武艷紅
研究方向:輝光,、熒光等
輝光放電光譜儀和熒光光譜儀的,,長期從事樣品測試及用戶培訓工作,經(jīng)驗豐富,??筛鶕?jù)客戶需求提供合適的儀器配置及解決方案。
4 魯逸林博士
研究方向:SPRi,、拉曼等
從事拉曼光譜,、AFM和表面等離子共振成像的,,負責樣品分析、數(shù)據(jù)解析,、應用方案設計,、用戶培訓等,在材料,、生物,、鋰電池等領(lǐng)域積累了豐富的經(jīng)驗。
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HORIBA科學儀器事業(yè)部
結(jié)合旗下具有近 200 多年發(fā)展歷史的 Jobin Yvon 光學光譜技術(shù),,HORIBA Scientific 致力于為科研及工業(yè)用戶提供先進的檢測和分析工具及解決方案,。如:光學光譜、分子光譜,、元素分析,、材料表征及表面分析等先進檢測技術(shù)。今天HORIBA 的高品質(zhì)科學儀器已經(jīng)成為科研,、各行業(yè)研發(fā)及質(zhì)量控制的,。