橢圓偏振光譜儀主要適用于科研院所的信息光電子功能薄膜、體材料的光學(xué)性質(zhì)和結(jié)構(gòu)特性研究,，可被研究材料種類包括：金屬和合金,、元素和化合物半導(dǎo)體、絕緣體,、超導(dǎo)體,、磁性和磁光材料、有機(jī)材料,、太陽能薄膜,、多層薄膜材料、液體材料等,。在測量中,，可按研究條件同時對入射角和波長進(jìn)行自動精細(xì)掃描，從而增加研究的靈活性,，便于用戶獲得更多的光譜信息進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,，提高研究的質(zhì)量和可靠性，并實(shí)現(xiàn)無接觸無損傷測量,。

 

    橢圓偏振光譜儀的性能指標(biāo)達(dá)均已達(dá)到同類技術(shù)的先進(jìn)水平,，產(chǎn)品國內(nèi)及海外市場。

 

橢圓偏振光譜儀主要特點(diǎn)

 

    WINXP友好操作界面

    實(shí)測光學(xué)常數(shù)種類：復(fù)折射率、復(fù)介電函數(shù),、吸收系數(shù),、反射率。

 

橢圓偏振光譜儀主要用途

 

    1.各種功能材料的光學(xué)常數(shù)測量和光譜學(xué)特性分析,；

    2.測量薄膜材料的折射率和厚度,；測量對象包括：金屬、半導(dǎo)體,、超導(dǎo)體,、絕緣體、非晶體,、超晶格,、磁性材料、光電材料,、非線性材料,；測量光學(xué)常數(shù)：復(fù)折射率的實(shí)虛部、復(fù)介電常數(shù)的實(shí)虛部,、吸收系數(shù)a,、反射率R。