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HORIBA參展的SEMICON China 2018
HORIBA參展的SEMICON China 2018
自1988年在上海舉辦以來,,SEMICON China已成為中國首要的半導(dǎo)體行業(yè)盛事之一,,囊括當(dāng)今世界上半導(dǎo)體制造領(lǐng)域主要的設(shè)備及材料廠商。可以說,,SEMICON China見證了中國半導(dǎo)體制造業(yè)茁壯成長,,加速發(fā)展的歷史。
本屆SEMICON China于3月14日在上海開幕,,HORIBA也前來參加這一盛會,,力求在追求率的半導(dǎo)體行業(yè)中,,為科研及工業(yè)用戶提供先進的檢測和分析工具,,并提供解決方案。
HORIBA作為有著近200年光學(xué),、光譜經(jīng)驗的老品牌,,非常注重行業(yè)間合作,以推動不同領(lǐng)域的科研技術(shù)發(fā)展以及成果轉(zhuǎn)化,,譬如:HORIBA的輝光放電光譜技術(shù)就可用于半導(dǎo)體材料中鍍層的深度剖析,;橢圓偏振光譜技術(shù)可用于薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)表征及工藝對鍍層的影響分析;拉曼光譜技術(shù)可用于半導(dǎo)體芯片缺陷分析診斷等,。
本次盛會,,HORIBA專設(shè)展臺,與科研專家及廠商面對面交流,。如果您有任何疑惑或需求,,歡迎光臨我們的展臺,HORIBA的銷售和技術(shù)人員會給您提供專業(yè)的建議及解決方案,。
附展會詳細信息如下:
展出時間:2018年3月14日-16日
展出地點:上海新博覽中心
HORIBA展位號:N2館 No.2601
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結(jié)合旗下具有近 200 多年發(fā)展歷史的 Jobin Yvon 光學(xué)光譜技術(shù),,HORIBA Scientific 致力于為科研及工業(yè)用戶提供先進的檢測和分析工具及解決方案。如:光學(xué)光譜,、分子光譜,、元素分析、材料表征及表面分析等先進檢測技術(shù),。今天HORIBA 的高品質(zhì)科學(xué)儀器已經(jīng)成為科研,、各行業(yè)研發(fā)及質(zhì)量控制的。