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二維材料缺陷表征利器——針尖增強近場光譜技術(shù)
繼二維材料——石墨烯的研究浪潮之后,,二維過渡金屬硫?qū)倩衔铮═MDs)材料因其納米尺度的新特性,,引發(fā)廣泛關(guān)注,并在光電器件,、催化,、成像與治療、傳感等許多領(lǐng)域都表現(xiàn)出廣泛的應(yīng)用前景,。
TMDs材料較高的光學(xué)量子產(chǎn)率和*的激子效應(yīng)讓它備受關(guān)注,,但材料缺陷問題(如晶界、褶皺,、成分偏析,、邊緣等)也對其局域激子行為、晶格振動以及局域光電特性等產(chǎn)生了影響,。
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為解決這一問題,,科研人員們不斷對TMDs材料的納米結(jié)構(gòu)進行表征探索。在這一過程中,,超分辨針尖增強近場光譜技術(shù)在納米尺度表征的優(yōu)勢,,讓它成為TMDs材料研究的工具,它能夠幫助研究人員以全新視角理解TMDs納米結(jié)構(gòu),。
6月19日,,HORIBA 2020在線講座第7集,,我們就邀請了杭州電子科技大學(xué)——蘇偉濤教授,,為大家介紹如何利用針尖增強近場光譜技術(shù),來對TMDs材料的缺陷和納米結(jié)構(gòu)進行研究,,以及目前這一研究領(lǐng)域研究都有哪些新進展,。相信這場講座定能夠幫助大家更好的了解TMDs材料和這一表征技術(shù)。
6月19日 14:00
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