I試片
定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片,。用于:將激磁次數(shù)降至Z少,,以提高生產(chǎn)效率;
確定磁場方向和相對的磁場強度,;
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
I試片
定量品質試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片,。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率,;
確定磁場方向和相對的磁場強度,;
平衡多向磁場。
標準I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,,用于縱向和軸向磁場,。
件號:521048 型號:KSC-430 標準I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,,試片厚度為0.004英寸
產(chǎn)品關鍵字:KSC-430 標準I試片