I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于:將激磁次數(shù)降至Z少,,以提高生產(chǎn)效率,;
確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度;
平衡多向磁場(chǎng),。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片,。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,,以提高生產(chǎn)效率;
確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度,;
平衡多向磁場(chǎng)。
小型I試片
與KSC-230相似,于工件上的小區(qū)域,,每片上四個(gè)圓,,可切割開(kāi),,可單獨(dú)使用
件號(hào):519631 型號(hào):KSC-4-230小型I試片,每片上四個(gè)基圓,,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸
產(chǎn)品關(guān)鍵字:KSC-4-230小型I試片