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定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測試片,。用于：將激磁次數(shù)降至Z少,，以提高生產(chǎn)效率；
確定磁場方向和相對的磁場強度,；
平衡多向磁場,。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測試片。用于：將激磁次數(shù)降至zui少,，以提高生產(chǎn)效率,；
確定磁場方向和相對的磁場強度；
平衡多向磁場,。
小型I試片
與KSC-230相似,，于工件上的小區(qū)域，每片上四個圓,，可切割開,，可單獨使用
件號：519631 型號：KSC-4-230小型I試片，每片上四個基圓,，缺陷深度為試片厚度的30%,，試片厚度為0.002英寸
產(chǎn)品關(guān)鍵字：KSC-4-230小型I試片