定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片,。用于:將激磁次數(shù)降至Z少,,以提高生產(chǎn)效率,;
確定磁場方向和相對的磁場強度,;
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參考價 | ¥1150 |
訂貨量 | 1 |
更新時間:2022-05-18 13:49:00瀏覽次數(shù):1354
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I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標準磁粉檢測試片。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,,以提高生產(chǎn)效率,;
確定磁場方向和相對的磁場強度;
平衡多向磁場,。
標準I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,,用于縱向和軸向磁場。
件號:521048 型號:KSC-430 標準I試片,,缺陷深度為試片厚度的30%,,試片厚度為0.004英寸
產(chǎn)品關(guān)鍵字:KSC-430 標準I試片