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產品簡介
詳細介紹
C型 磁粉探傷標準靈敏度試片
C型靈敏度試片zui先由日本無損檢測學會提出，以后為多個國家使用,，主要用于零部件的磁粉探傷,，在檢查中，對幾何形狀復雜,，不同材質的工作,，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設備,，磁粉和磁懸液的性能,，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢,，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,，并對顯示缺陷的磁場強度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者*的調試工具。
特 點：
試片用于磁粉顯示,，圖象直觀,，使用簡便。對各類零件所有方向的磁場,，尤其檢查部位狹小,、形狀復雜的零件時，表現其*的優(yōu)點,。
性能規(guī)格：
我公司生產的C型標準試片,，是一種消耗的調整磁粉 探傷靈敏度試片，它分為C1型和C2型,，它可以在任何幾 何形狀復雜的工件上探傷,，尤其在焊縫的坡口面上及狹小 部分，更能顯示它的優(yōu)點,。 C型標準試片相當于A型試片中2#試片的靈敏度等同,，它的磁化規(guī)范相當于8-10D，并可用作鑒定探傷設備、磁粉和磁懸液的性能,，在磁粉探傷過程中,，可以避免誤判或漏檢。C型標準靈敏度試片,，是磁粉探傷工作者*的調試工具,。
本套試片包括：C1： 8/50μ C2： 15/50μ 共六片，分兩組不同規(guī)格的試片組成
使用方法：
1,、使用C1型時,，沿者分割線，剪開為5x10mm的小片,，使用適當的雙面膠帶,，或者膠粘劑貼于試樣表面（雙面膠帶厚度要小于100μm）。
2,、使用連續(xù)法,，顯示磁痕，即是工件所需靈敏度,。
3,、使用C2型試片時，剪開C字為正,，也可不剪開,，以缺口為磁場方向，顯示痕跡,，即是工件所需靈敏度,。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片,，即可清楚顯示磁痕,。
注意事項：
1、試片使用前,，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好,。
2,、試片用后請涂防銹油。
3,、試片有銹蝕,、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
產品關鍵字：C型磁粉靈敏度試片 C型磁粉標準試片