偏光鏡檢術-偏光顯微鏡

偏光顯微鏡的特點
偏光顯微鏡是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡,。凡具有雙折射的物質,，在偏光顯微鏡下就能分辨清楚,，當然這些物質也可用染色發(fā)來進行觀察,，但有些則不可能，而必須利用偏光顯微鏡,。偏光顯微鏡的特點,，就是將普通光改變?yōu)槠膺M行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）,。雙折射性是晶體的基本特性,。因此，偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物,，化學等領域,。在生物學和植物學也有應用。
二．偏光顯微鏡的基本原理
偏光顯微鏡的原理比較復雜,，在此不作過多介紹,偏光顯微鏡必須具備以下附件（a）起偏鏡 （b）檢偏鏡 （c）無應力物鏡 （d）旋轉載物臺,。
三． 偏光鏡檢術的方式
（一） 正相鏡檢（Orthscope）：又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡,，不用伯特蘭透鏡（Bertrand Lens）,同時為使照明孔徑變小,，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性,。
（二） 錐光鏡檢（Conoscope）：又稱干涉鏡檢,，這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。
四． 偏光顯微鏡在裝置上的要求
（一） 光源：采用單色光,，因為光的速度,，折射率，和干涉現(xiàn)像因波長的不同而有差異,。一般鏡檢可使用普通光,。
（二） 目鏡：要帶有十字線的目鏡,。
（三） 聚光鏡：為了取得平行偏光，應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡,。
（四） 伯特蘭透鏡：這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡,。
五． 偏光鏡檢術的要求
（一） 載物臺的中心與光軸同軸。
（二） 起偏鏡和檢偏鏡應處于正交位置,。
（三） 制片不宜過薄,。

 

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