IM3570阻抗分析儀
【簡單介紹】
※阻抗:交流電路中電流不容易流通的程度。單位為Ω,。
【詳細說明】
IM3570阻抗分析儀產(chǎn)品的特點
不同測量條件下,,1臺進行高速測量
測量電容等零部件時,有時在不同條件下(頻率,、電平)測量多種測量項目,,1條生產(chǎn)線中需要多臺測量儀器。IM3570可再不同測量條件下進行高速連續(xù)測量,,1臺儀器即可滿足所有要求,。
檢查速度提高了2倍(跟以往型號相比)
和HIOKI的以往型號(3532-50)相比,大大縮短了測量時間,。LCR模式下,,以往機型一般需要5ms的測量時間,而IM3570的檢查速度提高了2倍,。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中,,IM3570發(fā)揮了作用。
測量的反復精度提高了1位(※1mΩ,,100次測量時)
功能性高分子電容在推進低ESR化的同時,,要求正確測量多個mΩ,。IM3570在測量低阻抗時的精度比以往機型提高了1位,因此為用戶提供穩(wěn)定測量,。
廣范圍的測量頻率
IM3570可在DC和4Hz~5Hz的范圍內(nèi)設置5位分辨率的頻帶(1kHz以下為0.01Hz分辨率),。可在接近共振頻率的測量和工作條件的狀態(tài)下進行測量和評價,。
15種測量參數(shù)
可測量Z,、Y等15種參數(shù),并將需要的參數(shù)讀取至計算機中,。
具備防止誤操作的接觸檢查功能
裝載了4端子測量,、2端子測量的接觸檢查功能。防止在測量電極不接觸被測物的狀態(tài)下測量的情況,,因此可以避免出現(xiàn)未檢查的產(chǎn)品出廠,。
廣范圍的測量電壓/電流
外加一般的開路信號發(fā)生,可在恒壓/恒流模式下進行考慮到電壓/電流依存性的測量,??稍O置廣范圍的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的測量信號電平,。
測試線可延長至4m
4端子的構(gòu)造可降低測試線的影響,,測試線長達4m仍可保證精度。從而便于自動設備的配線,。
IM3570阻抗分析儀主要參數(shù)
測量模式 | LCR模式:單一條件下測量 分析儀模式: 根據(jù)測量頻率,、測量電平進行掃描 (測量點:1~801,掃描方法:一般掃描/分區(qū)掃描,,顯示:列表顯示/圖表顯示) 連續(xù)測量模式: 連續(xù)測量保存的條件(zui多32個) |
測量參數(shù) | Z,、Y、θ,、Rs(ESR),、Rp、Rdc(直流電阻),、X,、G、B,、Cs,、Cp、Ls,、Lp,、D(tanδ)、Q |
測量量程 | 100mΩ~100MΩ,12檔量程(所有參數(shù)都根據(jù)Z來確定) |
基本精度 | Z:±0.08%rdg. θ:±0.05° |
測量頻率 | 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步進) |
測量信號電平 | 普通模式: V模式,、CV模式:5mV~5Vrms(1MHz以下),, 10mV~1Vrms(1MHz~5MHz),1mVrms步進 CC模式:10μA~50mArms(1MHz以下) 10μA~10mArms(1MHz~5MHz),,10μArms步進 低阻抗高精度模式: V模式,、CV模式:5mV~1Vrms(100kHz以下), 1mVrms步進 CC模式:10μA~100mArms(100kHz以下的100mΩ和1Ω量程),, 10μArms步進 |
輸出阻抗 | 普通模式:100Ω 低阻抗高精度模式:10Ω |
顯示 | 彩色TFT5.7英寸,,可設置顯示開或關 |
顯示位數(shù)設置 | 可設置3~7位的顯示位數(shù),初始值為6位 |
測量時間 | 0.5ms(100kHz,、FAST,、顯示關,代表值) |
測量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
DC偏壓測量 | 普通模式:DC0V~2.50V(10mV步進) 低阻抗高精度模式:DC0V~1.00V(10mV步進) |
直流電阻測量 | 普通模式:測量信號電平 DC100mV~2.5V(10mV步進) 低阻抗高精度模式:測量信號電平 DC100mV~1.00V(10mV步進) |
比較器 | LCR模式:第1,、第3項目的Hi/IN/Lo 分析模式: 區(qū)域判斷(各點的Hi/IN/Lo),、 峰值判斷(極大,、極小的頻率和值的Hi/IN/Lo) |
存儲功能 | 主機可保存32000個數(shù)據(jù) |
接口 | EXT I/O(handler) RS-232C GP-IB USB(Hi-Speed/Full-Speed) U盤 LAN(10BASE-T/100BASE-TX) |
電源 | AC90~264V,,50/60Hz,zui大150VA |
體積和質(zhì)量 | 約330W×119H×307Dmm,,約5.8kg |
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