IM3570阻抗分析儀產(chǎn)品的特點(diǎn) 
不同測(cè)量條件下,，1臺(tái)進(jìn)行高速測(cè)量 
測(cè)量電容等零部件時(shí)，有時(shí)在不同條件下（頻率,、電平）測(cè)量多種測(cè)量項(xiàng)目,，1條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測(cè)量?jī)x器,。IM3570可再不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量，1臺(tái)儀器即可滿足所有要求,。 

檢查速度提高了2倍（跟以往型號(hào)相比） 
和HIOKI的以往型號(hào)（3532-50）相比,，大大縮短了測(cè)量時(shí)間。LCR模式下,，以往機(jī)型一般需要5ms的測(cè)量時(shí)間,，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中,，IM3570發(fā)揮了作用,。 

測(cè)量的反復(fù)精度提高了1位（※1mΩ，100次測(cè)量時(shí)） 
功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí),，要求正確測(cè)量多個(gè)mΩ。IM3570在測(cè)量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位,，因此為用戶提供穩(wěn)定測(cè)量,。 

廣范圍的測(cè)量頻率 
IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范圍內(nèi)設(shè)置5位分辨率的頻帶（1kHz以下為0.01Hz分辨率）?？稍诮咏舱耦l率的測(cè)量和工作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)量和評(píng)價(jià),。 

15種測(cè)量參數(shù) 
可測(cè)量Z、Y等15種參數(shù),，并將需要的參數(shù)讀取至計(jì)算機(jī)中,。 

具備防止誤操作的接觸檢查功能 
裝載了4端子測(cè)量、2端子測(cè)量的接觸檢查功能,。防止在測(cè)量電極不接觸被測(cè)物的狀態(tài)下測(cè)量的情況,，因此可以避免出現(xiàn)未檢查的產(chǎn)品出廠。 

廣范圍的測(cè)量電壓/電流 
外加一般的開路信號(hào)發(fā)生,，可在恒壓/恒流模式下進(jìn)行考慮到電壓/電流依存性的測(cè)量,。可設(shè)置廣范圍的,、5mV~5V/10μA~50mA（~1MHz）以下的測(cè)量信號(hào)電平,。 

測(cè)試線可延長(zhǎng)至4m 
4端子的構(gòu)造可降低測(cè)試線的影響，測(cè)試線長(zhǎng)達(dá)4m仍可保證精度,。從而便于自動(dòng)設(shè)備的配線,。

IM3570阻抗分析儀主要參數(shù)