日本日置HIOKI發(fā)售SM7420高阻計:
HIOKI這次發(fā)售了高阻計SM7420,4ch同時測量大幅提高生產效率,。
SM7420高阻計是用于評估和檢查智能手機、混動電動汽車中的電子元件性能的4ch測試儀器,。而且,,和我司之前的DSM-8542相比,檢查速度提高了1倍,,測量的再現性和抗干擾性都有大幅提升,,因此能大大的提高評估和檢查的效率。
SM7420高阻計開發(fā)背景
隨著智能手機,、可穿戴設備,、混動電動汽車(HV/HEV)等的普及,疊層陶瓷電容器,、共模濾波器和SAW濾波器等電子元件市場也進一步擴大,。在生產過程中需要測量這類電子元件的絕緣電阻值,并對其性能進行評估,。
對于進行批量生產的廠家,,如何大量并迅速的進行測量變得尤為重要。而且,,由于汽車中所用的電容等元件都朝著高耐壓方向發(fā)展,,在掌握其性能時就會需要測量高壓輸出的絕緣電阻。 HIOKI為了滿足此類生產廠家需求,,著力開發(fā)了是以往產品的2倍測量速度的測量儀器,。
SM7420高阻計主要用途
電子元件(層陶瓷電容器、共模濾波器和SAW濾波器等)的性能評估
SM7420高阻計產品特點
1.實現4ch測量
電子元件生產中,,為了提高產量,,有時需要并列同時測量多通道,SM7420繼承了之前機型DSM-8542的優(yōu)點,,可以進行4ch的絕緣測量,。
※用于測量的電源需要另外準備。
2.檢查速度是以往機型的2倍,,縮短了檢查時間,。
zui快檢查時間是6.7ms(0.0067秒),和以往機型的檢查速度相比提高了1倍。由于縮短了檢查時間,,因此生產效率也會提升,。
3.通過改善測量的再現性和抗干擾性,提高生產效率
和以往機型相比,,測量的再現性和抗干擾性有大幅提升,。在同一條件下進行反復測量時,測量值的變化程度降低為通常測量時的1/60,。而且,,混入50V干擾時,zui小能達到1/300,,降低了變化幅度,。
這樣,通過增強測量的穩(wěn)定性,,從而提高檢查的效率,。
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