在半導(dǎo)體行業(yè)，老化試驗是檢驗產(chǎn)品穩(wěn)定性,、可靠性及長期性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié),。為了確保半導(dǎo)體產(chǎn)品在長期使用中的穩(wěn)定工作，進(jìn)行全面,、持續(xù)的數(shù)據(jù)采集至關(guān)重要,。GRAPHTEC數(shù)據(jù)記錄儀憑借其出色的性能，成為半導(dǎo)體行業(yè)老化試驗中的理想選擇,。

日本圖技數(shù)據(jù)記錄儀GL260A/GL860A在半導(dǎo)體行業(yè)老化試驗的應(yīng)用案例

老化測試

在老化測試過程中,，半導(dǎo)體產(chǎn)品的電壓、電流,、溫度等多個參數(shù)需要同時被監(jiān)測,，GRAPHTEC GL260 A-CN和GL860 A系列數(shù)據(jù)記錄儀可以提供10個到最高200通道，能夠同時記錄多個參數(shù),。無論是靜態(tài)電流的監(jiān)測,，還是工作電流的動態(tài)變化，GL-IV電流輸入模塊都能精準(zhǔn)記錄,。

此外,，GL260 A-CN和GL860 A系列數(shù)據(jù)記錄儀標(biāo)配了約8G閃存，使其能在滿足采樣速度下，能夠支持長時間的數(shù)據(jù)記錄,。通過大容量存儲,，測試人員無需頻繁導(dǎo)出數(shù)據(jù)，確保整個老化周期的連續(xù)性,。長時間的數(shù)據(jù)存儲還有效避免了因數(shù)據(jù)丟失而影響測試結(jié)果的風(fēng)險,。

通過GRAPHTEC數(shù)據(jù)記錄儀，半導(dǎo)體制造商能夠?qū)崟r跟蹤產(chǎn)品在老化過程中各項性能的變化,，如電流波動,、溫度升高等，及時發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問題,。這為產(chǎn)品的設(shè)計改進(jìn)和質(zhì)量控制提供了重要的數(shù)據(jù)支持,，確保最終交付的產(chǎn)品符合高標(biāo)準(zhǔn)的質(zhì)量要求。

日本圖技數(shù)據(jù)記錄儀GL260A/GL860A在半導(dǎo)體行業(yè)老化試驗的應(yīng)用案例

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