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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
磚用卡尺適用范圍 磚瓦質(zhì)檢部門對砌墻磚外形尺寸,、彎曲,、雜質(zhì)凸出的測量
磚用卡尺適用于墻體材料外觀質(zhì)量
墻體材料外觀質(zhì)量是直接影響砌筑施工墻體材料和砌體墻體材料質(zhì)量的另一重要指標(biāo)。產(chǎn)品常見的外觀質(zhì)量缺陷有：墻體材料表面的雜質(zhì)凸出,、完整面,、墻體材料表面疏松、層裂,， 墻體材料缺棱掉角,、裂紋、墻體材料無完整面、彎曲,、墻體材料肋壁內(nèi)殘缺,、欠火、酥啞,、雨淋等,；裝飾用時還有飾面色澤、花紋,、墻體材料顏色等外觀質(zhì)量要求,；外觀質(zhì)量不嚴(yán)重時，只對砌筑進(jìn)度,、 墻體材料表面(觀)質(zhì)量有影響,，墻體材料外觀質(zhì)量嚴(yán)重超標(biāo)時，同樣會增加建筑墻體材料施工,，如壘面,、抹灰方面的工程成本。重則同樣會對結(jié)構(gòu)產(chǎn)生大量的不均勻砌筑,，影響結(jié)構(gòu)承載及大幅度降低建筑物抗震性能,。而欠火、酥啞,、雨淋 墻體材料制品如果達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)要求,，將對砌筑墻體材料產(chǎn)生的后果則更為嚴(yán)重，輕則幾年內(nèi)墻體風(fēng)化損毀,，重則會造成建筑坍塌的嚴(yán)重惡性事故,。因此，國家標(biāo)準(zhǔn)對上述指標(biāo)都做出了嚴(yán)格規(guī)定,。
使用說明
ZK-1是河北省虹宇儀器設(shè)備有限公司自行研發(fā)的新一代滿足GB2542－2003《砌墻試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)的量具,，：/4406928、4633227用于磚瓦生產(chǎn)企業(yè),、磚瓦質(zhì)檢部門對燒結(jié)普通磚,、燒結(jié)多孔磚、空心磚和空心砌塊磚,、燒結(jié)粘土磚,、免燒磚、粉煤灰磚,、爐渣磚和碳化磚等的砌墻磚外形尺寸,、彎曲、雜質(zhì)凸出的測量,。
用來測量墻體材料尺寸偏差是一項(xiàng)直接對砌筑施工及砌體墻體材料質(zhì)量產(chǎn)生影響的重要指標(biāo),。規(guī)格尺寸達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)要求,，如墻體材料規(guī)格尺寸偏大、偏小,，或同一批墻體材料制品尺寸大小不一,，在砌筑 墻體材料時可能出現(xiàn)以下問題：制品實(shí)際砌筑用量和設(shè)計(jì)計(jì)算用量有很大出入；砌筑時墻體材料制品與墻體材料制品之間的灰縫寬度不能保持*,，寬窄不一,；一(皮)層 墻體材料制品鋪貼后鋪貼面不平整，高低不一,；偏差過大砌筑成墻體材料后,，輕則使建筑設(shè)計(jì)計(jì)算和預(yù)算方面增加不確定性，重則對結(jié)構(gòu)產(chǎn)生大量的不均勻砌筑,，影響結(jié)構(gòu)承載,，并會大幅度降低建筑物抗震性能。國家標(biāo)準(zhǔn)對制品的尺寸偏差所涉及的長度,、寬度,、高度(層厚)作了詳細(xì)的規(guī)定。
廠家實(shí)驗(yàn)步驟
a. 檢查試樣,，將不屬于石灰爆裂的外觀缺陷作標(biāo)記,。
b. 將磚樣平行側(cè)立安放于蒸煮箱內(nèi)的篦子板上，磚樣間隔不小于50mm,。箱內(nèi)水面高度應(yīng)低于篦子板40mm。
c. 將水加熱至沸騰后蒸1小時,，停止加熱4小時后揭蓋取出,。
d. 檢驗(yàn)每塊磚面上因石灰爆裂形成的外觀缺陷，并記錄其尺寸,，以毫米計(jì),。
業(yè)務(wù)一部:
負(fù)責(zé)業(yè)務(wù):質(zhì)檢計(jì)量儀器、實(shí)驗(yàn),，試驗(yàn)儀器,、化學(xué)試劑，玻璃器皿教學(xué),，物檢,，化學(xué)分析儀器、科研儀器,、環(huán)保,，防疫儀器
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：hebhongyu
負(fù)責(zé)業(yè)務(wù):質(zhì)檢計(jì)量儀器、實(shí)驗(yàn),，試驗(yàn)儀器,、化學(xué)試劑，玻璃器皿教學(xué),，物檢,，化學(xué)分析儀器、科研儀器,、環(huán)保,，防疫儀器
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業(yè)務(wù)二部：
負(fù)責(zé)業(yè)務(wù)：公路，鐵路儀器,、橋梁,，隧道儀器、建筑工程，無損檢測儀器,、大地計(jì)量,，光學(xué)測繪儀器
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負(fù)責(zé)業(yè)務(wù)：公路，鐵路儀器,、橋梁,，隧道儀器、建筑工程，無損檢測儀器,、大地計(jì)量,，光學(xué)測繪儀器
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