雙電測數(shù)字式四探針測試儀DP-2263
概述
DP-2263型雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測-改形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器,。該儀器符合單晶硅物理測試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針,、電壓探針的變換,,行兩次電測量,對數(shù)據(jù)行雙電測分析,,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,,大大提確度,,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試,。
雙電測數(shù)字式四探針測試儀DP-2263
儀器成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭,、測試臺(tái)以及PC軟件等分組成,。
主機(jī)主要由恒流源、分辨率ADC,、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,,USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定,、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入,;具有零位、滿度自校能,;測試能可自動(dòng)/手動(dòng)方式,;儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作成,也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上立操作成,。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示,也可連機(jī)由軟件界面同步顯示,、分析,、保存和打印,!
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,,探頭可有多款選配。有耐磨碳化鎢探針探頭,,以測試硅類半導(dǎo)體,、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻,;也有形鍍金銅合金探針探頭,,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻,。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻,、金屬導(dǎo)體的低,、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。
測試臺(tái)選配:般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺(tái),。
儀器具有測量度,、靈敏度、穩(wěn)定性好,、化程度,、測量簡便,、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn),。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠,、科研單位、等院校對導(dǎo)體,、半導(dǎo)體,、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試,特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試,。
三,、基本參數(shù)
3.1 測量范圍
電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm 方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
電 阻:1×10-5~2×105 Ω ,,分辨率:1×10-6~1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由選配測試臺(tái)決定和測試方式?jīng)Q定)
直 徑:DP-A圓測試臺(tái)直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
DP-B/C/F方測試臺(tái)直接測試方式180mm×180mm,,手持方式不限.
長()度:測試臺(tái)直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向,、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數(shù)字電壓表:
(1)量程: 20.00mV~2000mV
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
(1)量程:0.1μA,1μA,,10μA,,100µA,1mA,,10mA,,100mA,1A
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭(選配其或加配)
(1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,,直線探針間距1.0mm,,探針壓力: 0~2kg 可調(diào)
(2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,,探針壓力: 0~0.6kg 可調(diào)
3.6 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 耗:<20W
3.7 外形尺寸:
主機(jī) 220mm(長)×245 mm(寬)×100mm()
四探針電阻率測試儀/四探針電阻率/方阻測定儀 型號:DP-2253
概述
DP-2253型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器,。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。
儀器成套組成:由主機(jī)、選配的四探針探頭,、測試臺(tái)以及PC軟件等分組成,。
主機(jī)主要由恒流源、分辨率ADC,、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,,USB通訊接口。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關(guān)輸入,;具有零位,、滿度自校能;測試能可自動(dòng)/手動(dòng)方式,;儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作成,,也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上立操作成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示,,也可連機(jī)由軟件界面同步顯示,、分析、保存和打??!
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配,。有耐磨碳化鎢探針探頭,,以測試硅類半導(dǎo)體、金屬,、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻,;也有形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜,、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,,還可對電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低,、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量,。配探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻,。
測試臺(tái)選配:般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺(tái),。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺(tái),也可選配DP-D型測試臺(tái)以測試半導(dǎo)體粉末電阻率,,選配DP-G型測試臺(tái)測試橡塑材料電阻率,。
儀器具有測量度、靈敏度,、穩(wěn)定性好,、化程度、測量簡便,、結(jié)構(gòu)緊湊,、使用方便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位,、等院校對導(dǎo)體,、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試,。
三,、基本參數(shù)
3.1 測量范圍
電 阻:1×10-4~2×105 Ω ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω
電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm 方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
3.2 材料尺寸(由選配測試臺(tái)和測試方式?jīng)Q定)
直 徑:DP-A圓測試臺(tái)直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
DP-B/C/F方測試臺(tái)直接測試方式180mm×180mm,,手持方式不限.
長()度:測試臺(tái)直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向,、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數(shù)字電壓表:
(1)量程: 20.00mV~2000mV
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
(1)量程:0.1μA,1μA,,10μA,,100µA,1mA,,10mA,,100mA,1A
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭(選配其或加配)
(1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,,直線探針間距1.0mm,,探針壓力: 0~2kg 可調(diào)
(2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,,探針壓力: 0~0.6kg 可調(diào)
3.6. 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 耗:<20W
3.7.外形尺寸:
主 機(jī) 220mm(長)×245 mm(寬)×100mm()
凈 重:≤2.5kg
數(shù)字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀 型號:DP-2258C
概述
DP-2258C型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器,。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》,、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。
儀器成套組成:由主機(jī),、選配的四探針探頭、測試臺(tái)等分組成,。
主機(jī)主要由恒流源,、分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,。儀器所有參數(shù)設(shè)定,、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入;具有零位,、滿度自校能,;電壓電流自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀特贈(zèng)設(shè)測試結(jié)果分類能,,zui大分類10類,。
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配,。有耐磨碳化鎢探針探頭,,以測試硅類半導(dǎo)體、金屬,、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻,;也有形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜,、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,,還可對電阻器體電阻,、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量,。配探頭,,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺(tái)選配:般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺(tái),。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺(tái),,也可選配DP-D型測試臺(tái)以測試半導(dǎo)體粉末電阻率,選配DP-G型測試臺(tái)測試橡塑材料電阻率,。詳見《四探針儀器,、探頭和測試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》
儀器具有測量度、靈敏度,、穩(wěn)定性好,、化程度、結(jié)構(gòu)緊湊,、使用簡便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠,、科研單位,、等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體,、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試,。
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍,、分辨率(括號內(nèi)為可向下拓展1個(gè)數(shù)量級)
電 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)
電 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)
方塊電阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103 Ω/□
(5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103 Ω/□)
2. 材料尺寸(由選配測試臺(tái)和測試方式?jīng)Q定)
直 徑: DP-A圓測試臺(tái)直接測試方式 Φ15~130mm,,手持方式不限
DP-B/C/F方測試臺(tái)直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限.
長()度: 測試臺(tái)直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
3. 量程劃分及誤差等級
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000
常規(guī)量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ ---
zui大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB
4.作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5.外形尺寸: 245mm(長)×220 mm(寬)×95mm()
凈 重:≤1.5~2.0kg
數(shù)字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀 型號:DP-2258A
概述
DP-2258A型數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器,。該儀器符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》,、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》,、GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
儀器成套組成:由主機(jī),、選配的四探針探頭,、測試臺(tái)等分組成。
主機(jī)主要由恒流源,、分辨率ADC,、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定,、能轉(zhuǎn)換采用數(shù)字化鍵盤輸入,;具有零位、滿度自校能,;電壓電流自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀特贈(zèng)設(shè)測試結(jié)果分類能,,zui大分類10類,。
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配,。有耐磨碳化鎢探針探頭,,以測試硅類半導(dǎo)體、金屬,、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻,;也有形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導(dǎo)電薄膜,、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜(ITO膜)或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,,還可對電阻器體電阻,、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量,。配探頭,,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺(tái)選配:般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺(tái),。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺(tái),,也可選配DP-D型測試臺(tái)以測試半導(dǎo)體粉末電阻率,,選配DP-G型測試臺(tái)測試橡塑材料電阻率。
儀器具有測量度,、靈敏度,、穩(wěn)定性好、化程度,、結(jié)構(gòu)緊湊,、使用簡便等特點(diǎn)。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠,、科研單位,、等院校對導(dǎo)體、半導(dǎo)體,、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試,。
三、基本參數(shù)
1. 測量范圍,、分辨率(可向下拓展1~3個(gè)數(shù)量級,,括號內(nèi)為向下拓展3個(gè)數(shù)量級)
電 阻:1.0×10-3 ~ 200.0×105 Ω, 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×104 Ω
(1.0×10-6 ~ 200.0×102 Ω, 分辨率0.1×10-6 ~ 0.1×102 Ω)
電 阻 率:1.0×10-3 ~ 200.0×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×103 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.1×101 Ω-cm)
方塊電阻:5.0×10-3 ~ 100.0×104 Ω/□ 分辨率0.5×10-3 ~ 0.1×103 Ω/□
(5.0×10-6 ~ 100.0×101 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×101 Ω/□)
2. 材料尺寸(由選配測試臺(tái)和測試方式?jīng)Q定)
直 徑: DP-A圓測試臺(tái)直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
DP-B/C/F方測試臺(tái)直接測試方式180mm×180mm,,手持方式不限.
長()度: 測試臺(tái)直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向,、徑向均可
3. 量程劃分及誤差等級
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0
常規(guī)量程 kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□
zui大拓展量程 Ω-cm/□ mΩ-cm/□ μΩ-cm/□
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB
4) 作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5) 外形尺寸:W×H×L=215mm×85mm×190mm
凈 重:≤1.5~2.0kg
微量移液器/移液器/微量移液槍 型號:DP27026
產(chǎn)品參數(shù):
1µL~10µL/20µL~200µL/100µL~1000µL/500µL~5000µL |
溫馨提示:以上產(chǎn)品資料和圖片都是按照順序相對應(yīng)的
本公司主營 液氮治療儀,電測水位計(jì),,空盒氣壓表,,奧氏氣體分析儀。四聯(lián)自動(dòng)射流萃取器,,煙塵煙氣分析儀,,便攜式煙氣分析儀,金屬粉末流動(dòng)性測定儀,, 污垢熱阻檢測儀 ,,數(shù)字式大氣壓計(jì) ,不銹鋼自動(dòng)溶液過濾器,,紫外輻照計(jì),,氫氣發(fā)生器,露點(diǎn)傳感器 ,,紅外測油儀 ,,污染數(shù)SDI測定儀,三聚氰胺速測儀 ,,粉體綜合特性測試儀 粉體特性測試儀 放射性檢測儀,防靜電表/靜電測試儀/ 濕式氣體流量計(jì) 氣體流量計(jì) 流量計(jì)等,。公司秉承“顧客至上,,銳意取”的經(jīng)營理念,,堅(jiān)持“客戶*”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。歡迎惠顧,!