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當(dāng)前位置:北京亞歐德鵬科技有限公司>>水文儀器類>> DP-IR-2雙波段發(fā)射率測試儀/遠(yuǎn)紅外線測試儀/發(fā)射率測試儀/發(fā)射率檢測儀

雙波段發(fā)射率測試儀/遠(yuǎn)紅外線測試儀/發(fā)射率測試儀/發(fā)射率檢測儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號DP-IR-2

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時間:2016-10-25 05:39:28瀏覽次數(shù):3664次

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儀器中有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源,采用六位度微機(jī)控溫儀(能顯示到1mk),使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測量范圍,,而且地提了儀器在測量時的可靠性和穩(wěn)定性。
2.采用了的光學(xué)調(diào)制,,使測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響,。
3.在儀器中,考慮到樣品漫反射引起的測量誤差,,除鏡反射(MR)探測通道外

雙波段發(fā)射率測試儀/遠(yuǎn)紅外線測試儀/發(fā)射率測試儀/發(fā)射率檢測儀 型號:DP-IR-2

雙波段發(fā)射率測試儀 ,、遠(yuǎn)紅外線測試儀采用反射率法的測試原理,即通過采用主動黑體輻射源測定待測物表面的法向反射率,,而測出其在特定紅外波段的法向發(fā)射率,。該儀器可測量常溫樣品在3~5um、8~14um,、1~22um三個波段發(fā)射率,。對需要的用戶,通過的控溫加熱裝置,,在常溫至300℃溫度范圍加熱樣品,,行發(fā)射率變溫測量。該儀器主要用于軍事裝備的紅外隱身,、紅外烘烤,、建材、紙張,、紡織等行業(yè)對材料紅外輻射特性的測量研究,。目前已在西北核所,東南大學(xué)等單位使用,。
儀器特點(diǎn):
1.儀器中有小型標(biāo)準(zhǔn)黑體輻射源,,采用六位度微機(jī)控溫儀(能顯示到1mk),使儀器不僅具有穩(wěn)定的寬光譜測量范圍,,而且地提了儀器在測量時的可靠性和穩(wěn)定性,。
2.采用了的光學(xué)調(diào)制,使測量不受被測物表面輻射及環(huán)境輻射的影響,。
3.在儀器中,,考慮到樣品漫反射引起的測量誤差,除鏡反射(MR)探測通道外,,還增設(shè)了專門的漫反射(DR)補(bǔ)償通道,,從而確保了儀器的測量度,。
4.在信號及電子學(xué)處理上采用鎖相和微電子,較好地實現(xiàn)了對微弱信號的探測,,步提了儀器性能,。
5.本儀器操作簡單、使用方便,、測量快速,。
6.可按需更換濾光片,在多個紅外光譜波段內(nèi)行測試,。
7.在測量過程中不損傷被測樣品,。
8.本儀器帶RS-232串口及復(fù)位鍵RST。
主要標(biāo) 
1.測量波段:3~5um,、8~14um,、1~22um  
(若用戶有要求,可定制不同波段濾光片)
2.發(fā)射率測量范圍:0.1~0.99
3.靈敏度NE△ε:0.001
4.示值誤差:±0.02 (ε>0.50)
5.重復(fù)性:±0.01
6.樣品溫度:常溫(用戶為常溫~300℃)
7.樣品尺寸:>Ф50
8.測量時間:3秒后按測量鍵E,,即顯示ε測量值,。
9.顯示方法:LED數(shù)字顯示,末位0.001
10.電   源:  交流220V   50HZ

2.


其它
 
 
 
商品名稱:陶瓷磚平整度,、直角度,、邊直度綜合測定儀
商品型號:DP-ZCY
 

陶瓷磚平整度、直角度,、邊直度綜合測定儀   型號:DP-ZCY

,、陶瓷磚平整度、直角度,、邊直度綜合測定儀 概述
該儀器適用于測定各種墻面磚,、地面磚尺寸及形狀特性之儀器,其所測參數(shù)包括面磚的邊直度,、直角度,、平整度(中心彎曲度、邊彎曲度,、翹曲度)等幾項標(biāo),。本產(chǎn)品符合:GB/T3810.2-2006,idt ISO 10545-2-1995《陶瓷磚-尺寸和表面質(zhì)量的檢驗》的要求,。
二,、陶瓷磚平整度、直角度,、邊直度綜合測定儀 主要參數(shù)
1,、測量度:±0.1mm
2、測量范圍:60×60~600×600 ,,60×60~800×800,,60×60~1000×1000mm用戶自選,;
3、標(biāo)準(zhǔn)板客戶選購(選購件)
4,、根據(jù)用戶要求可選用數(shù)顯表,。(選購件)
三,、陶瓷磚平整度,、直角度、邊直度綜合測定儀 原理及結(jié)構(gòu)
本儀器由支承平板,、可移動的左支座和右支座組成個直角坐標(biāo)系,。在平板上有三個等支承銷與陶瓷面磚類似外形和具有理想尺寸的標(biāo)準(zhǔn)板行探測,并將儀表值調(diào)整至適當(dāng)位置,,并記下該示值,。然后,以被測陶瓷面磚取代標(biāo)準(zhǔn)板,,在不移動測量點(diǎn)的情況下,,分別測出六項標(biāo)參數(shù)。左,、右支座及中心測量支座可在平板上作平行移動,,組成不同位置的空間座標(biāo),以適應(yīng)不同規(guī)格尺寸陶瓷面磚的測定,。
 
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