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北京亞歐德鵬科技有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第15年

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雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/雙電測(cè)四探針測(cè)定儀/雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀

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產(chǎn)品型號(hào)DP-RTS-9

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時(shí)間:2016-10-11 16:57:32瀏覽次數(shù):1469次

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采用了四探針雙電測(cè)組合(亦稱雙位組合)測(cè)量新,將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針,、電壓探針的變換,在計(jì)算機(jī)控制下行兩次電測(cè)量,能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,。因而每次測(cè)量不知道探針間距、

雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/雙電測(cè)四探針測(cè)定儀/雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀  型號(hào):DP-RTS-9

采用了四探針雙電測(cè)組合(亦稱雙位組合)測(cè)量新,將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針,、電壓探針的變換,,在計(jì)算機(jī)控制下行兩次電測(cè)量,能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,。因而每次測(cè)量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置,。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正,,因此顯著降低了幾何因素影響,從而提了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度,。所有這些,,用目前大量使用的常規(guī)四探針測(cè)量方法所的儀器是無法實(shí)現(xiàn)的。

是個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,。測(cè)試程序在計(jì)算機(jī)與RTS-9型四探針測(cè)試儀連接的狀態(tài)下,,通過計(jì)算機(jī)的并口實(shí)現(xiàn)通訊。
    測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀行測(cè)量并實(shí)時(shí)采集兩次組合模式下的測(cè)試數(shù)據(jù),,把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄,、顯示出來,。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)行各種數(shù)據(jù)分析

 測(cè)量范圍

 電阻率:10-4105 Ω.cm(可擴(kuò)展,;  
 
方塊電阻:10-3106 Ω/□(可擴(kuò)展

 
電導(dǎo)率:10-5104 s/cm,;

 
電阻:10-4105 Ω,;

可測(cè)晶片厚度

 ≤3mm

可測(cè)晶片直徑

 140mmX150mmS-2A型測(cè)試臺(tái)
 200mmX
200mmS-2B型測(cè)試臺(tái),;
 400mmX
500mmS-2C型測(cè)試臺(tái),;

恒流源

 電流量程分為1μA,、10μA100μA,、1mA,、10mA100mA六檔,,各檔電流連續(xù)可調(diào)

數(shù)字電壓表

 量程及表示形式:000.00199.99mV,;    
 
分辨力:10μV
 
輸入阻抗:>1000MΩ,;
 
度:±0.1% ,;
 
顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;性,、量程自動(dòng)顯示,;

四探針探頭基本標(biāo)

 間距:0.01mm
 
針間緣電阻:≥1000MΩ,;
 
機(jī)械游移率:≤0.3%,;

 
探針:碳化鎢或速鋼Ф
0.5mm
 
探針壓力:516 牛頓總力,;

四探針探頭應(yīng)用參數(shù)

 (見探頭附帶的合格證

模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
JJG508-87

 0.01Ω,、0.1Ω,、10Ω,、100Ω1000Ω,、10000Ω≤0.3%±1

整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差

用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±4%

整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度

 ≤4%

計(jì)算機(jī)通訊接口

 并口

標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境

 溫度:23±2,;
 
相對(duì)濕度:≤65%
 
無頻干擾,;
 
無強(qiáng)光直射,;

2

測(cè)厚儀
 
 
 
商品名稱:多用途干膜檢測(cè)儀/干膜檢測(cè)儀/干膜測(cè)試儀
商品型號(hào):DP-PIG
 

多用途干膜檢測(cè)儀/干膜檢測(cè)儀/干膜測(cè)試儀  型號(hào):DP-PIG

多用途干膜檢測(cè)儀/干膜檢測(cè)儀/干膜測(cè)試儀 說明:   
     DP-PIG多用途干膜檢測(cè)儀(破壞性測(cè)厚儀)是根據(jù)GB/T13452.2方法4B(ISO.2808-4B法)GB/T9286(ISO.2409)GB/T9275(ISO.2815)標(biāo)準(zhǔn)的。它不僅適用于有機(jī)涂料漆膜厚度(亦多層膜總厚度,,單層膜厚度及膜層數(shù)),、劃格法附著力、巴克霍爾茲壓痕硬度的測(cè)定,,還可以用來研究針孔,、坑洼、裂紋,、汽泡、剝落,、底材處理的質(zhì)量及膜層間的其它現(xiàn)象,,并可以在不同的底材(鋼,、非磁性金屬、塑料,、木材等)上測(cè)量厚度,,范圍從2μm到2000μm。
  漆膜多用檢測(cè)儀可以在種儀器上成對(duì)有機(jī)涂料多種性能的試驗(yàn)及檢測(cè),,且試驗(yàn)方法簡捷,、直觀,測(cè)量分辯率(±0.001mm),,是實(shí)驗(yàn)室和施現(xiàn)場(chǎng)理想的測(cè)試儀器,。
   多用途干膜檢測(cè)儀/干膜檢測(cè)儀/干膜測(cè)試儀  參數(shù):
  本儀器集劃格附著力、漆膜厚度和巴克霍爾茲壓痕硬度三項(xiàng)能于體,,適用于漆膜附著力,、漆膜厚度和巴克霍爾茲壓痕實(shí)驗(yàn)。
破壞法測(cè)量多種底材上的涂層厚度,,尤其適合塑料和硬質(zhì)木材上的涂層測(cè)厚,。
測(cè)厚量程0-2000μm,度可達(dá)2μm,。
 1號(hào)切刀:厚度范圍 20―2000μm  每格20μm
 2號(hào)切刀:厚度范圍 10―1000μm  每格10μm
 3號(hào)切刀:厚度范圍 2―200μm  每格2μm
附著力刀頭可做劃格試驗(yàn),。
 劃格附著力多刃切割刀,間距分別為:1mm,、2mm
硬度刀頭可行布氏壓痕硬度試驗(yàn),。
 巴克霍爾茲壓痕刀半徑:R15mm,有效負(fù)荷:500±5g
 
 
 

 

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