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臺式薄膜測厚儀/薄膜測厚儀型號：DP-CH-1-ST

測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜或薄片）。本測厚儀執(zhí)行標準GB/T6672-2001標準。

主要參數(shù)：
2.

測厚儀

商品名稱：涂層測厚儀/測厚儀
商品型號：DPT220

涂層測厚儀/測厚儀 型號：DPT220

【商品簡介】

本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,，可無損地測量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅,、鋁、鉻,、銅,、橡膠、油漆等）
可行零點校準及二點校準,，并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差行修正,；
具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
具有刪除能：對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)行刪除,，也可刪除存貯區(qū)內的所有數(shù)據(jù),，以便行新的測量；
設有五個統(tǒng)計量：平均值（MEAN）,、zui大值（MAX）,、zui小值（MIN）、
測試次數(shù)（NO．）,、標準偏差（S．DEV）,；
具有米、英制轉換能,；
具有打印能,，可打印測量值、統(tǒng)計值,；
具有欠壓示能,；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯誤提示能,；
具有自動關機能,。

測頭類型		F
測量原理		磁感應
測量范圍		0-1250um
低限分辨力		1µm（10um以下為0.1um）
探頭連接方式		體化
示值誤差	點校準（um）	±[3%H+1]
	兩點校準（um）	±[（1～3）%H+1]
測量條件	zui小曲率半徑（mm）	凸 1.5 凹9
	基體zui小面積的直徑（mm）	ф7
	zui小臨界厚度（mm）	0.5
溫濕度		0~40℃ 20%RH～90%RH
統(tǒng)計能		平均值（MEAN）、zui大值（MAX）,、zui小值（MIN）,、測試次數(shù)（NO．）、標準偏差（S．DEV）
作方式		直接方式（DIRECT）和成組方式（Appl）
測量方式		連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
上下限設置		無
存儲能力		15 個測量值
打印/連接計算機		可選配打印機/不能連接電腦
關機方式		自動
電源		二節(jié)3.6V鎳鎘電池
外形尺寸		150×55.5×23mm
重量		150g