DP-WSP-51數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。
方塊電阻/電阻率四探針測試儀/便攜式四探針檢測儀 型號:DP-WSP-51
DP-WSP-51數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,,它可以測量片狀,、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻),。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊電阻(簡稱方阻),,換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻,、金屬導體的低,、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻行測量。
本測試儀可贈設(shè)電池供電,,適合手持式變動場合操作,!
儀器所有參數(shù)設(shè)定、能轉(zhuǎn)換采用旋鈕輸入,;具有零位,、滿度自校能;自動轉(zhuǎn)換量程,;測試探頭采用耐磨碳化鎢探針制成,,故定位準確、游移率小,、壽命長,;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。
三,、基本參數(shù)
1. 測量范圍,、分辨率
電 阻: 1.0×10-2 ~ 2000 Ω, 分辨率0.1×10-3 ~ 0.1×10 Ω
電 阻 率: 1.0×10-3~ 2000 Ω-cm 分辨率0.1×10-2 ~ 0.1 Ω-cm
方塊電阻: 1.0×10-3 ~ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1 ~ 0.1×10 Ω/□
2. 可測半導體材料尺寸(手持式)
直 徑: 測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,其他方式不限.
長(或)度: 測試臺直接測試方式 H≤160mm, 其他方式不限.
3. 量程劃分及誤差等級
量程 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 |
kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ |
基本誤差 | ±1%FSB±2LSB | ±1.5%FSB ±4LSB |
4) 適配器作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,,或電池供電
5) 外形尺寸:W×H×L=18cm×7.5cm×13cm
凈 重:≤0.5kg
2.
商品名稱:數(shù)字式緣電阻測試儀/數(shù)字式兆歐表/兆歐表/緣電阻表
商品型號:DP-DY30-4
![](http://www.51298264.com/UploadFile/201393012404586932.jpg)
數(shù)字式緣電阻測試儀/數(shù)字式兆歐表/兆歐表/緣電阻表 DP-DY30-4
能 | 量程 | 基本度 |
額定作電壓 | 100/250/500/1000V | ±(3.0%+5) |
緣電阻測試范圍 | 0.001M~2000MΩ | ±(3.0%+5) |
交流電壓 | - |
自動量程 | √ |
單位符號顯示 | √ |
數(shù)據(jù)保持 | √ |
低電阻蜂鳴顯示 | √ |
電壓欠壓提示 | √ |
電源 | 1.5V電池×6(UM3) |
LCDzui大顯示 | 1999 |
LCD視窗尺寸 | 26×62mm |
標準包裝尺寸 | 150×100×70mm |
產(chǎn)品重量 | 約680克 |