/半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率測(cè)試儀/四探針電阻率儀/四探針電阻率測(cè)定儀/電阻率測(cè)試儀型號(hào)：DP-WSP-6

DP-WSP-6型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是于各種半導(dǎo)體材料包括:片狀硅料、晶體,、晶體等的電阻率測(cè)定的設(shè)備,測(cè)定范圍:0.01-199.99歐姆厘米,，是廠家硅料分選測(cè)試的理想具。

1,、 主要標(biāo):

電源：220V交流

可測(cè)晶片直徑（zui大）Ф100mm,方形230×220mm

恒流源：電流量程為0.01～1mA連續(xù)可調(diào),，誤差≦±0.5%。

數(shù)字電壓表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV

電阻率顯示：三位半數(shù)字顯示：小數(shù)點(diǎn),、性,、過(guò)載,、自動(dòng)顯示0.01-199.99歐姆。厘米

輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω

測(cè)量度：±0.1,。

zui大電阻測(cè)量誤差（按JJG508-87行）：0.1Ω,、1Ω、10Ω,、100Ω≤±5%讀數(shù)±2個(gè)字,。

重?fù)綑z測(cè)誤差（JJG508-87行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%,、0.1Ω≤±0.1%

測(cè)量環(huán)境：溫度23±2℃,，相對(duì)濕度≤65%

2、操作程序：

  1,、連好電源,，打開后面板電源開關(guān)，電源示燈亮,，表示待機(jī)畢,。

  2、校準(zhǔn)設(shè)備：厚度小于3.98mm取與要備測(cè)試硅材料厚度相同的硅材料標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)電阻率測(cè)試儀,，測(cè)試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)電阻率測(cè)試儀

  3,、測(cè)試：用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準(zhǔn),，待儀器顯示數(shù)字穩(wěn)定即可,，

  4校驗(yàn)：在測(cè)試過(guò)程中要求2小時(shí)用標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)次設(shè)備，

3,、 針組件;維護(hù)及注意事項(xiàng):

  1,、般情況下,除了信號(hào)傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護(hù)主要包括針頭的更換和針頭的清理清潔作

  2、維護(hù)后的安裝及維護(hù)過(guò)程中,注意安裝過(guò)程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列,。

2.