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1NM 3938E77型掃描電遷移粒徑譜儀中國(guó)區(qū)域
閱讀：640 發(fā)布時(shí)間：2016-8-24
1NM 3938E77型掃描電遷移粒徑譜儀中國(guó)區(qū)域
TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移粒徑譜儀被廣泛用于測(cè)量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測(cè)量 標(biāo)準(zhǔn),。選配3777型納米增強(qiáng)儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后,，SMPS粒徑譜 儀能夠測(cè)量納米的粒徑范圍擴(kuò)展至1nm。,。
以下特性和優(yōu)勢(shì)是基于由 3082 型靜電分級(jí)器 ,、 1nm-DMA差分遷移分析儀 、 3777型納米增 強(qiáng)儀 ,、3772型凝聚粒子計(jì)數(shù)器 等組件共同組成的SMPS掃描電遷移粒徑譜儀。
特性和優(yōu)勢(shì)
高分辨率粒徑分布
+ 64通道/10倍粒徑
+ 1到50nm之間多于109通道
給您靈活度的組件設(shè)計(jì)
1nm到50nm的極寬粒徑范圍
+和3081A型長(zhǎng)差分電遷移分析儀配套使用能夠測(cè)量1nm到1um
三個(gè)數(shù)量級(jí)的粒徑
*化設(shè)計(jì),，將散逸損失降到zui低,，系統(tǒng)高度整合
通過氣溶膠儀器管理（AIM）軟件進(jìn)行系統(tǒng)操作
離散顆粒物測(cè)量：多模態(tài)樣品測(cè)量效果*
應(yīng)用
基礎(chǔ)氣溶膠研究
顆粒成核及生長(zhǎng)研究
大氣及氣候研究
燃燒及發(fā)動(dòng)機(jī)排放研究
過濾器及空氣凈化器測(cè)試
吸入或暴露艙研究
健康影響因素研究