硅片缺陷觀測儀 硅片劃痕崩邊測定儀 硅片位錯層錯檢測儀

型號JC06-WDI

硅片缺陷觀測儀于對硅片的缺陷進(jìn)行觀察,，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯,、層錯,、劃痕、崩邊等,。

實時對圖像進(jìn)行分析,、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵,。配合投影儀和計算機(jī)等顯示,、存儲設(shè)備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果,；

硅片缺陷觀測儀-產(chǎn)品特點

適用于對硅片的缺陷觀察效果,，非常明顯，包括肉眼無法觀測的位錯,、層錯,、劃痕、崩邊等,；

使硅片缺陷觀察工作簡單化,，準(zhǔn)確化,，同時極大程度降低此項工作強(qiáng)度,；

實時對圖像進(jìn)行分析,、測量和統(tǒng)計，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵,。配合投影儀和計算機(jī)等顯示,、存儲設(shè)備，能更好的觀測和保存研究結(jié)果,；

使用 1/2"CMOS 感光芯片,，具有體積小，技術(shù)*,，像素較高,， 成像清晰 、線條細(xì)膩,、色彩豐富,；

傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設(shè)計 ,；

有效分辨率為 200 萬像素,；

所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。

北京北信科儀分析儀器有限公司

地址：北京市昌平區(qū)西三旗龍旗廣場2號樓

：李

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