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高低溫濕熱試驗(yàn)箱的壓縮機(jī)為什么會結(jié)霜,？
首先在于實(shí)驗(yàn)室環(huán)境上，需要選擇良好的安裝場所,，此意才是使高低溫系列試驗(yàn)設(shè)備的壓縮機(jī)正確使用空氣系統(tǒng)的先決條件,。如果試驗(yàn)設(shè)備的試驗(yàn)環(huán)境沒有事前的規(guī)劃，殊不知如此草率的結(jié)果,，卻形成日后壓縮機(jī)故障維修困難及壓縮空氣品質(zhì)不良等的原因,。
一、這里我們談到的高低溫系列試驗(yàn)設(shè)備包含：高低溫試驗(yàn)箱,、高低溫交變試驗(yàn)箱,、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱,、溫度沖擊試驗(yàn)箱等，這些設(shè)備的同一個制冷核心——壓縮機(jī),。設(shè)備試驗(yàn)系統(tǒng)的好壞,，對于壓縮機(jī)的控制性能有著直接的聯(lián)系。制冷壓縮機(jī)作為溫度試驗(yàn)機(jī)的核心配件,，壓縮機(jī)的保養(yǎng)顯得尤其重要。
1,、試驗(yàn)箱應(yīng)建立在硬質(zhì)的地坪上,，在安裝前須將基礎(chǔ)平面整水平，以避免壓縮機(jī)產(chǎn)生震動而引起噪音,。
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2、試驗(yàn)箱工作場地電壓要保持穩(wěn)定,，反則會導(dǎo)致電流過大或過小,，常期在此條件下工作會導(dǎo)致壓縮機(jī)損壞。
3、設(shè)備應(yīng)安置在寬敞的地方,，空間狹小不利于后期的維修和保養(yǎng)，特別是壓縮機(jī)的冰凍機(jī)之散熱器(冷凝器)應(yīng)定期保養(yǎng),，保持清潔,。
4、由于壓縮機(jī)有空氣循環(huán)系統(tǒng),，如果設(shè)備周圍環(huán)境的空氣灰塵多,，需加過濾裝置,，同時(shí)，空氣中是不允許含有可燃?xì)怏w及腐蝕性氣體的,，以免可能引起爆炸或內(nèi)部銹蝕,。整體來講，要保證空氣的相對濕度較低,，灰常少量，通風(fēng)良好,。
5,、壓縮的性能不宜受高溫，環(huán)境溫度低于30℃為宜,。如果溫度過高,，壓縮機(jī)的輸出空氣量就會減少,。
二、高低溫試驗(yàn)設(shè)備在試驗(yàn)過程中,，正確的操作和合理的處理故障,，有利于壓縮機(jī)的保養(yǎng)和延長使用壽命。
1,、設(shè)備在試運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)，嚴(yán)格檢查壓縮機(jī)的運(yùn)轉(zhuǎn)方向,，當(dāng)發(fā)現(xiàn)反轉(zhuǎn)應(yīng)立即停機(jī),，切斷電源，把三相線任何兩根對調(diào)再重新開機(jī),，否則會損壞壓縮機(jī)
2,、試驗(yàn)設(shè)備在工作中，定期檢驗(yàn)壓縮機(jī)安全閥等保護(hù)系統(tǒng),，確保其靈敏可靠,。
3、在試驗(yàn)過程中不宜頻繁啟動壓縮機(jī),，壓縮機(jī)啟動的間隔時(shí)間為15分鐘。
步入式高低溫試驗(yàn)箱特點(diǎn)
1,、 溫度：藥品長期測試實(shí)驗(yàn)中的高溫實(shí)驗(yàn)通常需要60℃,，低溫實(shí)驗(yàn)需要0℃,，均一度為±2℃，因此我們在選擇箱體時(shí)應(yīng)選擇的低要求為0-60℃,，同時(shí)溫度均一性越高越好,。另外,，藥品測試常常需要幾天設(shè)置幾個月的連續(xù)實(shí)驗(yàn)，所以選擇質(zhì)量和穩(wěn)定性較好的箱體顯得非常重要,。
2、 濕度：根據(jù)藥品測試不同的實(shí)驗(yàn)選擇對應(yīng)的濕度控制范圍,，如高濕實(shí)驗(yàn)高要求要在90%±5%的相對濕度下進(jìn)行，然而濕度往往伴隨著溫度的改變而改變,，各種品牌的測試箱濕度測試標(biāo)準(zhǔn)千差萬別,。按照上的標(biāo)準(zhǔn)來說，濕度范圍參數(shù)一般是基于15-30℃溫度下來定義的,，個別特殊的箱體例外,。因此我們在選擇箱體時(shí)要注意各廠商的濕度范圍參數(shù)是在什么溫度下進(jìn)行測量的,。
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高低溫試驗(yàn)箱需滿足的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,，以及其原器件,，及其它材料在高溫、低溫,、溫濕度及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存,、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn),。
滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：
GB 10589-2008 《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB 11158-2008 《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB 10592-2008 《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法》
GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》
GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變試驗(yàn)方法》
GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則》
GB2423.22-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備》
GB2423.3－2008試驗(yàn)C《恒定濕熱試驗(yàn)方法》;
GB2423.4－93試驗(yàn)D《交變濕熱試驗(yàn)方法》