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環(huán)境試驗的目的
環(huán)境試驗的目的
環(huán)境試驗的目的源于工業(yè)產(chǎn)品價值的評價,，不只是機能與性能與否,，還要從其他各種不同的觀念作綜合評價而決定,也就是在實踐運用的嚴(yán)苛條件下,，機能與性能能夠確保到什么水平,，而且能夠維持到多久,，假如改換零部件或進(jìn)行修理時,，其難易程度,，這些問題對決定優(yōu)劣占了很大的比例，而且這個比例是靈活變動的,。例如,，以往軍用機器不計本錢,，以制造的機器為*先，如今有了改動,，成本的評價基準(zhǔn)和普通工業(yè)制品一樣,，已經(jīng)朝這個方向開展了。zui近,，隨著貿(mào)易化,，運輸、運用條件也愈加多樣化,。這樣一來,，對產(chǎn)品的要求條件也越來越嚴(yán)苛，可以處理這些問題的廠家才是成功者,，能夠生存下去,，因而對所要求的條件下如何進(jìn)步質(zhì)量、性能,、信任度,、低成本，成為廠家極為重要的課題,。這些并不是一朝一夕能夠辦到的事情,，必需將用戶的需求恰當(dāng)?shù)乃妓髦贫ǔ錾唐贩桨福軐⑺圃斐鰜淼闹圃旒夹g(shù),、能將運用資料作出或維持的資料技術(shù),，并將這些妥善運用的管理、分析技術(shù)等等,，將這些集成之后才干完成出來,。
為進(jìn)一步提升可靠的手法-----環(huán)境試驗，占了非常重要的位置,。說沒有環(huán)境試驗就不可能確保質(zhì)量,，一點不為過。環(huán)境試驗提供了一種確定的,、驗證環(huán)境影響的手腕,，目的在于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在構(gòu)造設(shè)計、元器件,、資料選擇以及工藝方面的缺陷,，以便采取恰當(dāng)?shù)拇胧牧籍a(chǎn)品預(yù)期運用環(huán)境的順應(yīng)性,；其次是審定,、考核產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性，考驗?zāi)芊駶M足規(guī)范,、技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)或用戶的需求,，并作為投產(chǎn)或批量消費接納或拒收決策的根據(jù),；再者就是為運用、維修和后勤保證提供有用的數(shù)據(jù)信息,。
歸結(jié)為電工電子產(chǎn)品可靠性試驗的目的通常有如下幾方面：
1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,，評價產(chǎn)品可靠性到達(dá)預(yù)定指標(biāo)的狀況；
2.消費階段為監(jiān)控消費過程提供信息,；
3.對定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性審定或驗收,；
4.暴露和分析產(chǎn)品在各種環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機理；
5.為改良產(chǎn)品可靠性,，制訂和改善可靠性試驗方案,，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。