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光學中的磁光克爾效應簡述
點擊次數(shù)：678 發(fā)布時間：2023-12-25
當一束單色線偏振光照射在磁光介質(zhì)薄膜表面時,，部分光線將發(fā)生透射，透射光線的偏振面與入射光的偏振面相比有一轉(zhuǎn)角,，這個轉(zhuǎn)角被叫做磁光法拉第轉(zhuǎn)角(θF).而反射光線的偏振面與入射光的偏振面相比也有一轉(zhuǎn)角，這個轉(zhuǎn)角被叫做磁光克爾轉(zhuǎn)角(θk),，這種效應叫做磁光克爾效應.磁光克爾效應包括三種情況:(1)縱向克爾效應,，即磁化強度既平行于介質(zhì)表面又平行于光線的入射面時的克爾效應;(2)極向克爾效應，即磁化強度與介質(zhì)表面垂直時發(fā)生的克爾效應;(3)橫向克爾效應,，即磁化強度與介質(zhì)表面平行時發(fā)生的克爾效應,。
對于已經(jīng)寫入了信息的磁光介質(zhì)，要讀出所寫的信息則需要利用磁光克爾效應來進行.具體方法是:將一束單色偏振光聚焦后照射在介質(zhì)表面上的某點,，通過檢測該點處磁疇的磁化方向來辨別信息的"0"或"1"。例如,，被照射的點為正向磁化,，則在該點的反射光磁光克爾轉(zhuǎn)角應為+θk，相反被照射的點為反向磁化,，則在該點的反射光磁光克爾轉(zhuǎn)角應為-θk,。因此,，如果偏振分析器的軸向恰好調(diào)整為與垂直于記錄介質(zhì)的平面成θk夾角,，那么在介質(zhì)上反向磁化點的反射光線將不能通過偏振分析器，而在介質(zhì)的正向磁化處,，反射光則可以通過偏振分析器,。這表明反射光的偏振面旋轉(zhuǎn)了2θk的角度.這樣，如果我們在經(jīng)過磁光介質(zhì)表面反射的光線后方,，在通過偏振分析器后的光路上安放一光電檢測裝置(例如光電倍增管),，就可以很方便地辨認出反射點是正向磁化還是反向磁化,，也就是完成了"0"和"1"的辨認.可見,，磁光克爾轉(zhuǎn)角在磁光信息讀出時扮演著十分重要的角色.如果把磁光介質(zhì)附著在可旋轉(zhuǎn)的圓盤表面，就構(gòu)成了磁光盤.磁光盤旋轉(zhuǎn)時,，如果同時有單色偏振光聚焦在磁光盤表面，就可實現(xiàn)光線的逐點掃描,，即信息被連續(xù)讀出,。